Spot View亞微米級(jí)表面檢測(cè)

Spot View^®亞微米級(jí)表面檢測(cè)

美國(guó)REMSPEC的Spot View^®產(chǎn)品獲得了美國(guó)R&D 100 設(shè)計(jì)大獎(jiǎng)。Spot View^®是一種靈敏度非常高的表面分析技術(shù)，檢測(cè)限可以達(dá)到0.3 μg/cm²。Spot View^®包含配備斯特林制冷器的MCT檢測(cè)器，整個(gè)系統(tǒng)處于密閉狀態(tài)。Spot View^®配備有3米長(zhǎng)的光纖電纜，從而可以在很多場(chǎng)所自如使用。操作軟件系統(tǒng)符合美國(guó)藥典 21 CFR Part 11要求。諸如制藥行業(yè)的反應(yīng)釜或者計(jì)算機(jī)的硬盤(pán)的表面分析，可以選用手持式的檢測(cè)頭，可以在不受清洗溶劑的干擾下，準(zhǔn)確測(cè)試殘留的APIs活性組分的含量。