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Leica DM3?XL 微電子和半導(dǎo)體用檢驗(yàn)系統(tǒng)

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更新時(shí)間:2024-02-11 08:35:32瀏覽次數(shù):240

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產(chǎn)品簡介

更多細(xì)節(jié)盡收眼底,工作更高效看到更多細(xì)節(jié)意味著工作更高效

詳細(xì)介紹

更多細(xì)節(jié)盡收眼底,工作更高效

看到更多細(xì)節(jié)意味著工作更高效。為快速掃描達(dá)到 6" 的大組件,DM3 XL 提供的宏觀物鏡。

利用 0.7x 放大倍率,它可以即刻采集 35.7 mm 的視場 – 比其他常規(guī)掃描物鏡寬敞 30%。

在宏觀物鏡下,缺陷無所遁形:

  • 提高您的收益率

  • 可靠檢測晶片邊緣或中心顯影不足的區(qū)域

  • 檢測不均勻的徑向膜厚度

適用于所有相襯觀察方法的 LED

DM3 XL 針對(duì)所有相襯觀察方法使用 LED 照明。LED 照明可提供恒定的色溫,并在所有亮度等級(jí)下提供真彩色成像。

在所有亮度等級(jí)下實(shí)現(xiàn)真彩色成像

  • 自由調(diào)節(jié)

  • 無需更換燈泡 – 無停機(jī)時(shí)間

  • 可復(fù)制的結(jié)果

由于 LED 使用壽命長,耗電量低,因此還具有巨大的成本節(jié)約潛力。

光學(xué)“高手"

DM3 XL 讓您以實(shí)惠的價(jià)格享受到**的光學(xué)性能。

  • 采用斜射照明檢驗(yàn)側(cè)面、邊緣或碎屑:以簡單有效的方式從不同角度照亮樣品,從而實(shí)現(xiàn)各種形貌的可視化。

  • 借助深暗場對(duì)比檢測樣品較低層中的微小劃痕或小顆粒。

您將對(duì)明顯提高的靈敏度和分辨率感到震驚。

不同樣品 – 可變載物臺(tái)插件

無論您想要檢驗(yàn)的樣品是哪種類型,尺寸如何,均有種類豐富的載物臺(tái)插件供您選擇:

  • 載物臺(tái)尺寸:150 mm x 150 mm

  • 載物臺(tái)插件:金屬插件、晶片支座或掩模支座

  • 快速的粗略或**載物臺(tái)定位

工作舒適直觀

彩色編碼光圈輔助 (CCDA) 對(duì)分辨率、對(duì)比和景深的基本設(shè)置進(jìn)行簡化,有助于提升您的工作速度,并**程度減少操作失誤。

直觀明了的功能幫助您的團(tuán)隊(duì)更快速地交付*佳結(jié)果。

  • 得益于可輕松操作的控件,用戶可在切換對(duì)比度或照明時(shí),雙手繼續(xù)操作顯微鏡,雙眼專注于樣品之上。

  • 右手可輕松操控光強(qiáng)控制器

  • 使用可變?nèi)梭w工學(xué)鏡筒和調(diào)焦旋鈕,根據(jù)不同身高調(diào)整顯微鏡


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