X-strata熒光鍍層測厚儀

X-Strata 920有三種配置滿足各種形狀和尺寸的樣品。固定樣品臺用于小型或超薄部件的快速定位。加深樣品臺的可移動托盤可快速設置滿足小型和大型部件（大至6"）。程控樣品臺可自動分析多個樣品或同一個樣品上的多個部位。

微聚焦XRF鍍層測厚及材料分析光譜儀，可用于電鍍、PVD和CVD操作的快速質量控制和驗證測試，不論您在檢測小配件、大組件或復雜配件，都能讓您在幾秒內輕松得到正確的結果。

我們的鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術，該技術已被普遍認可并且得到廣泛應用，可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析，可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。

優(yōu)化的微聚焦硬件和直觀的用戶界面，簡化了常規(guī)分析，提高了產(chǎn)出，使用“一鍵式"操作可確保好簡單的培訓就能同專業(yè)技術人員得到一樣的結果。高級用戶能容易地理解X熒光光譜，獲得定制的校準和探索未知的材料。

所有牛津儀器微聚焦XRF分析儀器符合ASTM B568，可測量單層和多層涂層，包括合金層。他們可以按電鍍液或合金分析來校準。X-Strata和MAXXI系列產(chǎn)品的設計滿足質量控制或過程控制程序，以及研究實驗室的應用。

X-Strata, Eco 和 MAXXI 系列產(chǎn)品是專為分析功能性鍍層而設計的。