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日本紫外可見分光光度計(jì)

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更新時(shí)間:2023-11-18 22:42:07瀏覽次數(shù):230

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地 日本 是否進(jìn)口 是 ......

詳細(xì)介紹


產(chǎn)品參數(shù):

 

 光學(xué)系統(tǒng)  比例監(jiān)測(cè)雙光束
 光譜帶寬  1.8nm
 波長范圍  190~1100nm
 波長允許誤差  ±0.3nm
 波長重復(fù)性  ≤0.2nm
 光度范圍  T:0~200.00%T A:-0.301~4.000Abs C:0~9999
 透射比允許誤差  ±0.3%T
 透射比重復(fù)性  ≤0.1%T
 雜散光  ≤0.05%T(220nm、340nm處)
 基線平直度  ±0.002A
 漂移  ≤0.001A/h (500nm處)
 噪聲  99%(T)線噪聲≤0.1%(T) 0%(T)線噪聲≤0.05%(T)
 顯示器  320×240大屏幕LCD(6英寸)
 外形尺寸  540x445x230(mm)



產(chǎn)品介紹:

大屏幕掃描型比例監(jiān)測(cè)雙光束紫外-可見分光光度計(jì)。全新的光學(xué)系統(tǒng)和電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)確保儀器具有:高分辨率、低雜散光、持久穩(wěn)定性和高信噪比。可滿足用戶多層次的分析應(yīng)用需求。紫外-可見分光光度計(jì)計(jì)算機(jī)應(yīng)用軟件為您的儀器實(shí)現(xiàn)更加強(qiáng)大的功能。

 

功能:

光度測(cè)量:定波長測(cè)試吸光度、透過率和濃度測(cè)量

光譜掃描:掃描速度可選,間隔可選(0.1、0.5、1、2、5nm),峰/谷自動(dòng)檢測(cè),圖譜縮放等功能
定量測(cè)定:單波長法、一階線性標(biāo)準(zhǔn)曲線擬合,最多可建立9個(gè)標(biāo)樣點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)曲線
動(dòng)力學(xué)測(cè)量(時(shí)間掃描):對(duì)樣品進(jìn)行動(dòng)力學(xué)測(cè)試,測(cè)試間隔時(shí)間可選,可保存1800個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)點(diǎn)。 

 

特點(diǎn):

持久的穩(wěn)定性:比例監(jiān)測(cè)雙光束光學(xué)系統(tǒng),確保儀器長時(shí)間的穩(wěn)定
超低的雜散光:*的光學(xué)系統(tǒng)、低噪聲的電路系統(tǒng)和優(yōu)質(zhì)的光學(xué)元器件保證儀器具有超低的雜散光,使高濃度樣品測(cè)試更準(zhǔn)確。
顯示操作人性化設(shè)計(jì):大屏幕顯示器顯示數(shù)據(jù)、圖形、曲線,更直觀,用戶操作簡單方便。
自動(dòng)比色架:自動(dòng)八聯(lián)池可做更多樣品測(cè)定,大大提高了儀器測(cè)試速度
燈源更換簡單方便:法蘭盤座式氘燈結(jié)構(gòu),更換氘燈無需專用工具,免去換燈時(shí)光路調(diào)試步驟,使儀器調(diào)試、維護(hù)更加簡單。
豐富的可選附件:多種附件可供選擇,儀器測(cè)量范圍更加廣泛。
工作站軟件,具有各種測(cè)試、掃描功能


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