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考古檢測X熒光光譜儀

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更新時間:2023-11-15 11:17:35瀏覽次數:213

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產品簡介

產地 上海 是否進口 否 ......

詳細介紹

技術指標: 

測量元素范圍從鈉(Na)至鈾(U)
元素含量分析范圍1ppm—99.99%
分析精度0.05%
同時分析元素幾十種元素同時分析
測量鍍層鍍層厚度測量薄至0.01微米
測量對象狀態(tài)粉末、固體、液體
測量時間60s—200s
管壓5KV—50KV
輸入電壓AC 110V/220V 
消耗功率200W
環(huán)境溫度15-26℃
相對濕度≤70% 
超大抽真空樣品腔600*600*1000mm3
重 量 280KG


儀器介紹:

 新型儀器在測試陶瓷的同時亦可以測試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬(Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等)等的化學成份和金屬鍍層厚度,做到一機多用,是古文物檢測的科學檢測儀器。中國歷史博物館、中國收藏家協會等古文物收藏部門都是其用戶。

標準配置:

電制冷UHRD探測器
內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍
可自動切換型準直器和濾光片
光路增強系統(tǒng)
內置高清晰攝像頭
加強的金屬元素感度分析器
智能全元素分析軟件,與儀器硬件相得益彰,且操作簡單。
面光源
放大電路
高低壓電源
X光管
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型。
三重安全保護模式

應用領域

古陶瓷
古青銅器
古首飾
鍍層測厚


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