詳細介紹
高加速老化試驗(HAST)目的是為了提高產(chǎn)品環(huán)境應力(如: 溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等),加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間,隨著電子、半導體產(chǎn)品可靠性的提高,目前大多電子器件能承受長期的高溫高濕度偏差試驗而不會產(chǎn)生失效,因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應增加了許多。在產(chǎn)品的設(shè)計階段,用于快速暴路產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié),測試其制品的密封性和老化性能。
廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA.光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗。
1、采用進口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu),在上降低了使用故障率;
2、獨立蒸汽發(fā)生室,避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品,以免造成產(chǎn)品局部破壞;
3、門鎖省力結(jié)構(gòu),解決代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點;
4、試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設(shè)計(試驗桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性;
5、超長效實驗運轉(zhuǎn)時間,長時間實驗機臺運轉(zhuǎn)400小時;
6、水位保護,透過試驗室內(nèi)水位Sensor檢知保護;
7、tank耐壓設(shè)計,箱體耐壓力(150℃)2.65kg,符合水壓測試6kg
8、安全保護排壓鈕,警急安全裝置二段式自動排壓鈕;
9、偏壓測試端子耐壓可達3000V(選配)
10、USB導出歷史記錄數(shù)據(jù),曲線
內(nèi)部尺寸 | ?400mm×L500mm | ||||
外部尺寸 | 900×850×1800mm(W*D*H) | ||||
設(shè)定溫度 | +100℃~+132℃(蒸氣溫度) | ||||
濕度范圍 | 70~99%蒸氣濕度 | ||||
濕度控制穩(wěn)定度 | ±3%RH | ||||
使用壓力 | 1.2~2.89kg(含1atm) | ||||
時間范圍 | 0Hr~999Hr | ||||
加壓時間 | 0.00Kg~1.04Kg/cm2約45分 | ||||
溫度波動均勻度 | ±0.5℃ | ||||
溫度顯示精度 | 0.1℃ | ||||
壓力波動均勻度 | ±0.1Kg | ||||
濕度分布均度 | ±3%RH |