日立高新掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II

“*的SEM更為緊湊"

寬幅僅為45 cm的緊湊型的設(shè)計，仍具備4.0 nm的圖像分辨率。

全新開發(fā)的用戶界面和電子光學系統(tǒng)讓您深切體驗其高性能。

特點

FlexSEM 1000 II，憑借全新設(shè)計的電子光學系統(tǒng)和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kV下實現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面，具有亮度和對焦自動調(diào)節(jié)功能，可以在短時間內(nèi)進行各種觀察。此外，還搭載了全新的導航功能“SEM MAP"，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點，實現(xiàn)最直觀的視野移動。

盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡，仍可實現(xiàn)4.0 nm的分辨率

憑借的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器（UVD*2），可在低加速/低真空下觀察時實現(xiàn)的畫質(zhì)

全新的用戶界面，無論用戶的熟練程度如何，都可實現(xiàn)高畫質(zhì)和高處理能力

全新的定位功能“SEM MAP"，支持觀察時的視野搜索和樣品定位

大直徑（30毫米2）無氮EDS檢測器，可快速進行元素分析*2

*1 設(shè)置到桌面上時，請將機體與電源盒分離

*2 選項

       日立公司掃描電子顯微鏡——FlexSEM 1000。該產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊，占地面積小，但分辨率不輸大型電鏡，同時操作極其簡便，幾乎不用培訓就可操作。緊湊型設(shè)計，分辨率為4 nm。

       掃描電子顯微鏡可對材料的表面進行高倍率觀察及高精度元素分析，在納米技術(shù)、生命科學、產(chǎn)品設(shè)計研發(fā)及失效分析等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。 近年來，掃描電鏡觀察表面精細結(jié)構(gòu)及元素分析的需求日趨增加，而越來越多的用戶希望能在生產(chǎn)線、品保檢驗線和辦公區(qū)等有限的空間里使用掃描電子顯微鏡。因此，體積小、操作簡便、分辨率高的掃描電子顯微鏡備受關(guān)注。FlexSEM 1000主機寬450mm、長640mm，相比SU1510型號體積減小52%，重量減輕45%，功耗減小50%，且配備標準化的電源接口。主機與供電單元可分離，安裝非常靈活。

        FlexSEM 1000采用設(shè)計的電子光學系統(tǒng)和高可靠性、高靈敏度的探測器，分辨率高達4nm。FlexSEM 1000有多種自動化功能，操作簡便，即便是初次操作者也能快速拍出高質(zhì)量圖像。另外，新開發(fā)的導航功能「SEM MAP」可使用各種光學圖片或電鏡照片進行導航，一鍵就快速精準地切換至感興趣的高倍率視野。

  緊湊型VP-SEM FlexSEM 1000

(主機與供電單元可分離)

特點：

a. 通過高靈敏度二次電子探測器，背散射探測器，低真空探測器（UVD*2），實現(xiàn)低加速電壓/低真空下高質(zhì)量圖像觀察

b. 操作簡捷，即使新手也能拍出高質(zhì)量的圖片

c. 新開發(fā)的導航功能「SEM MAP」，便于快速鎖定視野

d. 大窗口（30 mm2）SDD能譜系統(tǒng)，便于快速分析元素成分*2

*1     設(shè)置在桌面時，分離主機和電源箱

*2     選配

參數(shù)