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Ispark5180全譜火花直讀光譜儀

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更新時間:2023-04-07 10:21:49瀏覽次數(shù):331

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產(chǎn)品簡介

Ispark5180全譜火花直讀光譜儀概述:Ispark5180全譜直讀光譜儀廣泛應(yīng)用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、準(zhǔn)確、可靠測量幾十種元素,滿足研發(fā)、生產(chǎn)控制、產(chǎn)品檢驗(yàn)等多方面需求

詳細(xì)介紹

Ispark5180全譜火花直讀光譜儀
概述:
Ispark5180全譜直讀光譜儀廣泛應(yīng)用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、準(zhǔn)確、可靠測量幾十種元素,滿足研發(fā)、生產(chǎn)控制、產(chǎn)品檢驗(yàn)等多方面需求。Ispark5180全譜火花直讀光譜儀適用于鐵,鋁,鋅,銅,鎂,鎳,鈦,鈷等十類金屬樣品的成分分析。
Ispark5180直讀光譜儀的技術(shù)參數(shù)
(一)光學(xué)系統(tǒng)
  • 帕型-龍格羅蘭圓全譜真空型光學(xué)系統(tǒng)
  • 光柵焦距:500 mm.
  • 波長范圍:130–800 nm
  • 德國蔡司高性能全息衍射光柵,光柵刻線:3600條/mm
  • 日本索尼探測器:多塊塊高性能線陣CCD
  • 色散率
  • 一級色散率:0.7nm/mm
  • 二級色散率:0.35nm/mm
  • 光室溫度:自動控制恒溫:34℃±0.5℃ 
  • 分辨率:優(yōu)于0.01nm
  • 漂移校正功能-得益于自動尋峰功能(精確度達(dá)到0.1像素)
  • 全光學(xué)系統(tǒng)自動描跡
  • 密閉的真空光學(xué)室可以避免灰塵、光線的干擾
激發(fā)平臺
  • 開放式樣品臺設(shè)計(jì),滿足大樣品測試要求
  • 3.4mm樣品臺分析間隙
  • 激發(fā)臺孔徑:13mm
  • 鎢金材料噴射電極輕松應(yīng)對小樣品及復(fù)雜幾何形狀樣品
  • 低氬氣消耗,待機(jī)時:無須待機(jī)流量   
  • 定制異性樣品適配器
  • 不同基體無須更換火花臺
  • 優(yōu)化的雜質(zhì)排出系統(tǒng)
  • 牢固的銅制樣品臺散熱效果佳
激發(fā)光源
  • 全新可調(diào)節(jié)數(shù)字化光源,高能預(yù)燃技術(shù)(HEPS)
  • 半導(dǎo)體控制放電激發(fā)
  • 1 到 100 A等低氬氣消耗
  • 使用便捷的樣品離子體電流
  • 放電參數(shù)由密碼保護(hù)
  • 特別的分析要求可有不同的激發(fā)參數(shù)
  • 火花光源放電穩(wěn)定,不受供電系統(tǒng)波動的影響
  • 激發(fā)參數(shù)由激發(fā)線和分析程序標(biāo)定和控制
  • 火花源可有多種參數(shù)設(shè)置
  • 火花頻率: 100 到 to 1000 Hz (可控)
  • 激發(fā)功率:400VA
  • 放電電流:400A
Ispark5180分析軟件
  • 計(jì)算每種元素的校正曲線需考慮到各種基體(參考線)
  • 智能化 : 用一組標(biāo)樣即可完成標(biāo)準(zhǔn)化
  • 便于操作的用戶圖形界面
  • 創(chuàng)建或修改分析程序
  • 常用的操作功能鍵
  • 可選擇的輸出方式 ( 強(qiáng)度,強(qiáng)度比,未校正的濃度,校正后的濃度等)
  • 可選擇的濃度單位 ( ppm, % )
  • 通用標(biāo)準(zhǔn)化
  • 微型標(biāo)準(zhǔn)化
  • 校正元素間的干擾
  • 自動標(biāo)準(zhǔn)化
  • 標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差功能
  • 合金類型鑒定(UNI, ISO, DIN, EN, ASTM, JIS, BS, 等)
  • 標(biāo)樣庫
  • 國際標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)庫
  • 牌號鑒定
  • 支持C當(dāng)量或其他參數(shù)的計(jì)算
  • 可標(biāo)記超出工作曲線范圍的元素分析結(jié)果
  • 具有根據(jù)分析時間或激發(fā)次數(shù)自動再校正功能
  • 在同一點(diǎn)可重復(fù)一次或多次激發(fā),可剔除一次或多次激發(fā)結(jié)果
  • 統(tǒng)計(jì)功能軟件
  • 統(tǒng)計(jì)計(jì)算
  • 可打印所有激發(fā)結(jié)果或是最多100次的激發(fā)平均結(jié)果,及其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對標(biāo)準(zhǔn)偏差
硬盤存儲數(shù)據(jù)便于今后的研究分析,可連接外部計(jì)算機(jī)或中心系統(tǒng)

 

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