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上海盈諾精密儀器有限公司>>>>智能型 激光粒度儀 TS-W3

智能型 激光粒度儀 TS-W3

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更新時(shí)間:2023-08-01 08:55:19瀏覽次數(shù):417

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智能型 激光粒度儀 TS-W3

詳細(xì)介紹

概述:

隨著科學(xué)技術(shù)的日益進(jìn)步和發(fā)展,在國(guó)民經(jīng)濟(jì)的許多部門(mén),如能源、動(dòng)力、機(jī)械、醫(yī)藥、化工、輕工、冶金、建材等行業(yè)中都出現(xiàn)了越來(lái)越多的細(xì)微顆粒密切相關(guān)的技術(shù)問(wèn)題有待解決,顆粒粒徑大小的測(cè)量是其中最基本也是最重要的一個(gè)方面。許多情況下,顆粒粒徑大小不僅直接影響到產(chǎn)品的性能與質(zhì)量,而且對(duì)工藝過(guò)程的優(yōu)化、能源消耗的降低、環(huán)境污染的減少等都有重大的關(guān)聯(lián)。 近年來(lái),與、國(guó)防工業(yè)、軍事科學(xué)等密切相關(guān)的各種新型顆粒材料,特別是超細(xì)納米顆粒的問(wèn)世和利用,給顆粒粒徑的測(cè)量提出了新的和更高的要求,不但要求快速、自動(dòng)化數(shù)據(jù)處理、而且也要求提供可靠的更豐富的數(shù)據(jù)和更有用的信息,以滿(mǎn)足科研領(lǐng)域和工業(yè)質(zhì)量控制方面應(yīng)用的需要。TS-W系列激光粒度分析儀正是為了滿(mǎn)足用戶(hù)上述新要求而精心研制開(kāi)發(fā)的一代激光粒度分析儀。該儀器集*激光技術(shù)、半導(dǎo)體技術(shù)、光電技術(shù)、微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的應(yīng)用,綜合了光、機(jī)、電、計(jì)算機(jī)于一體,以光散射理論為基礎(chǔ)的顆粒粒徑測(cè)量技術(shù)突出的優(yōu)點(diǎn)逐步取代了一些傳統(tǒng)的常規(guī)測(cè)量方法,必將成為一代新穎的顆粒粒徑測(cè)量?jī)x器。并且在科研領(lǐng)域和工業(yè)質(zhì)量控制的粒度分布分析中發(fā)揮著越來(lái)越大的作用。

TS-W系列激光粒度分析儀的高品質(zhì)和所測(cè)樣品的廣泛性使得它在實(shí)驗(yàn)室的實(shí)驗(yàn)研究和工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用。例如:材料、化工、制藥、精細(xì)陶瓷、建材、石油、電力、冶金、食品、化妝品、高分子、油漆、涂料、碳黑、高嶺土、氧化物、碳酸鹽、金屬粉末、耐火材料、添加劑等以顆粒物作為生產(chǎn)原材料、產(chǎn)品、中間體等。

技術(shù)特點(diǎn):

1. 的半導(dǎo)體制冷恒溫控制綠色固體激光器做光源,波長(zhǎng)短、體積小、工作穩(wěn)定、壽命長(zhǎng);

2. 設(shè)計(jì)大直徑光靶,保證測(cè)量范圍大,0.1-1000微米全測(cè)量范圍內(nèi)不需要更換鏡頭或移動(dòng)樣品池;

3. 集多年研究之成果,米氏理論的應(yīng)用;

4. 反演算法,保證顆粒測(cè)量的準(zhǔn)確;

5. USB接口,儀器與計(jì)算機(jī)一體化,內(nèi)嵌10.8寸工業(yè)級(jí)別的電腦,可連接鍵盤(pán)、鼠標(biāo)、U盤(pán)

6. 測(cè)量時(shí)循環(huán)樣品池或固定樣品池可選,兩者可根據(jù)需要換用;

7. 樣品池模塊化設(shè)計(jì),更換模塊可實(shí)現(xiàn)不同的測(cè)試模式;循環(huán)樣品池內(nèi)置超聲分散裝置,可有效分散團(tuán)聚顆粒

8. 樣品測(cè)量可自動(dòng)化,除添加樣品外,只要連接好蒸餾水進(jìn)水管和排水管,進(jìn)水、測(cè)量、排水、清洗,啟動(dòng)超聲分散裝置等操作可自動(dòng)進(jìn)行,同時(shí)也提供手動(dòng)測(cè)量菜單;

9. 軟件個(gè)性化,提供測(cè)量向?qū)У缺姸喙δ?,方便用?hù)操作;

10. 測(cè)量結(jié)果輸出數(shù)據(jù)豐富,保存在數(shù)據(jù)庫(kù)中,能用任意參數(shù),如操作者姓名,樣品名,日期,時(shí)間等進(jìn)行調(diào)用分析,與其他軟件實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)共享;

11. 儀器造型美觀,體積小重量輕;

12. 測(cè)量精度高,重復(fù)性好,測(cè)量時(shí)間短;

13. 軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶(hù)選擇,滿(mǎn)足用戶(hù)查找被測(cè)顆粒折射率要求;

14. 考慮到測(cè)試結(jié)果的保密要求,只有操作者才能進(jìn)入相應(yīng)數(shù)據(jù)庫(kù)讀取數(shù)據(jù)和處理;

15. 本儀器符合但并不局限于以下標(biāo)準(zhǔn):

ISO 13320-2009 G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法

技術(shù)參數(shù)

1. 理論依據(jù):Mie散射理論

2. 粒徑測(cè)量范圍:0.1-600um

3. 光源:半導(dǎo)體制冷恒溫控制紅光固體激光光源,波長(zhǎng)635nm

4. 重復(fù)性誤差:<1%(標(biāo)準(zhǔn)D50偏差)

5. 測(cè)量誤差:<1%(標(biāo)準(zhǔn)D50偏差,用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)顆粒檢驗(yàn))

6. 檢測(cè)器:324864或更高通道硅光電二極管

7. 樣品池:滴樣法樣品池10mL;循環(huán)樣品池(500mL內(nèi)置超聲分散、攪拌裝置)

8. 測(cè)量分析時(shí)間:正常條件下小于1分鐘(從開(kāi)始測(cè)量到顯示分析結(jié)果)

9. 輸出內(nèi)容:體積、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表;多種統(tǒng)計(jì)平均直徑;操作者信息;實(shí)驗(yàn)樣品信息、分散介質(zhì)信息等。

10. 顯示方式:內(nèi)嵌10.8寸工業(yè)級(jí)別的電腦,可連接鍵盤(pán)、鼠標(biāo)、U盤(pán)

11. 電腦系統(tǒng):WIN 10系統(tǒng),30GB硬盤(pán)容量、2GB系統(tǒng)內(nèi)存

12. 電源:220V,50 Hz

工作條件:

l 1.室內(nèi)溫度:15-35

l 2.相對(duì)溫度:不大于85%(無(wú)冷凝)

l 3.建議用交流穩(wěn)壓電源1KV,無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)干擾。

l 4.由于在微米級(jí)的范圍內(nèi)的測(cè)量,儀器應(yīng)放在堅(jiān)固可靠、無(wú)振動(dòng)的工作臺(tái)上,并且在少塵條件下進(jìn)行測(cè)量。

l 5.儀器不應(yīng)放在太陽(yáng)直射、風(fēng)大或溫度變化大的場(chǎng)所。

l 6.設(shè)備必須接地,保證安全和高精度。

7.室內(nèi)應(yīng)清潔、防塵、無(wú)腐蝕性氣體。

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