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LED壽命測(cè)試系統(tǒng)

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更新時(shí)間:2022-11-05 10:54:18瀏覽次數(shù):339

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

可用于大批量LED測(cè)試,NIST溯源的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。

詳細(xì)介紹

l 服務(wù)于大批量LED測(cè)試
l 人機(jī)工學(xué)設(shè)計(jì)的工作平臺(tái)便于操作者監(jiān)控測(cè)試過程
l 背照式CCD光譜儀具有高靈敏度
l 單次測(cè)量中保證光學(xué)和電學(xué)測(cè)試同時(shí)進(jìn)行
l 快速、準(zhǔn)確,全軟件控制
l NIST溯源的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)
l 測(cè)量參數(shù)包括輻射通量、光通量、峰值波長(zhǎng)、質(zhì)心波長(zhǎng)、主波長(zhǎng)、半峰值帶寬、CIE光譜純度、CIE色度、正向電壓、正向電流、反向漏電流等




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