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Tracera高靈敏度氣相色譜系統(tǒng)

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更新時(shí)間:2022-12-08 11:24:10瀏覽次數(shù):325

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Tracera高靈敏度氣相色譜系統(tǒng)傳統(tǒng)氣相色譜檢測(cè)器很難勝任氣體中痕量物質(zhì)分析的工作,島津公司全新開(kāi)發(fā)的高靈敏度氣相色譜系統(tǒng)Tracera,融合了專為毛細(xì)管型氣相色譜儀GC-2010 Plus精心設(shè)計(jì)的BID檢測(cè)器(介質(zhì)阻擋放電等離子體檢測(cè)器)技術(shù),在此方面展示了強(qiáng)大的分析優(yōu)勢(shì),能夠滿足痕量物質(zhì)分析的需求。

詳細(xì)介紹

Tracera高靈敏度氣相色譜系統(tǒng)

傳統(tǒng)氣相色譜檢測(cè)器很難勝任氣體中痕量物質(zhì)分析的工作,島津公司全新開(kāi)發(fā)的高靈敏度氣相色譜系統(tǒng)Tracera,融合了專為毛細(xì)管型氣相色譜儀GC-2010 Plus精心設(shè)計(jì)的BID檢測(cè)器(介質(zhì)阻擋放電等離子體檢測(cè)器)技術(shù),在此方面展示了強(qiáng)大的分析優(yōu)勢(shì),能夠滿足痕量物質(zhì)分析的需求。

高靈敏度

比TCD的靈敏度高100倍以上,比FID的靈敏度高2倍以上

Tracera高靈敏度氣相色譜系統(tǒng)

高通用性

單一檢測(cè)器滿足復(fù)雜分析要求

高穩(wěn)定性

介質(zhì)阻擋放電等離子體生成技術(shù)保證儀器長(zhǎng)期穩(wěn)定性

新型等離子體技術(shù)滿足痕量分析的要求

新型BID檢測(cè)器(介質(zhì)阻擋放電等離子體檢測(cè)器)主要通過(guò)介質(zhì)阻擋放電產(chǎn)生的氦等離子體進(jìn)行電離(離子化),是一種靈敏度的通用型檢測(cè)器。在較低溫度下,通過(guò)在石英玻璃管上加高電壓,產(chǎn)生具有光子能量(17.7eV)的氦等離子體。

色譜柱流出的組分在氦等離子體的能量轟擊下離子化,收集極檢測(cè)離子信號(hào),輸出色譜峰。

BID檢測(cè)器是島津公司與日本大阪大學(xué)工程學(xué)研究生院原子和分子技術(shù)中心Katsuhisa Kitano博士的合作研究成果,目前已獲得3項(xiàng)美國(guó),4項(xiàng)待審批。

應(yīng)用對(duì)比

檢測(cè)器適用化合物
介質(zhì)阻擋放電等離子體檢測(cè)器(BID)全部有機(jī)和無(wú)機(jī)化合物 (He和Ne除外)
熱導(dǎo)檢測(cè)器 (TCD)全部有機(jī)和無(wú)機(jī)化合物(載氣除外)
氫火焰離子化檢測(cè)器 (FID)全部有機(jī)化合物 (甲醛和甲酸除外)

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