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麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒徑分析儀 BLUEWAVE

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更新時(shí)間:2024-01-03 08:38:58瀏覽次數(shù):249

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性能指標(biāo)三激光

詳細(xì)介紹

性能指標(biāo)

  • 三激光,藍(lán)/紅,多探測(cè)器,多角度光學(xué)系統(tǒng)
  • 真藍(lán)光激光器(非LED)
  • 分別針對(duì)球形和非球形材料利用Mie理論補(bǔ)償和修正Mie計(jì)算的算法
  • 測(cè)量范圍從0.01到2800微米
  • 干濕測(cè)量
  • 封閉的光路可確保對(duì)光學(xué)組件進(jìn)行全面保護(hù),幾乎不需要操作員干預(yù)
優(yōu)點(diǎn)

  • 利用藍(lán)激光,低端范圍測(cè)量的分辨率得以提高,從而顯著提高了低于1微米的測(cè)量精度。
  • 專有的修正Mie理論計(jì)算使用戶能夠準(zhǔn)確測(cè)量其他粒度分析儀難以準(zhǔn)確表征測(cè)量的非球形顆粒
  • 從濕測(cè)量到干測(cè)量的無縫過渡減少了停機(jī)時(shí)間
  • 固定的撿測(cè)器可提供堅(jiān)固的耐用性并確保光學(xué)系統(tǒng)的正確位置
  • 小巧的占用面積減少了對(duì)寶貴實(shí)驗(yàn)室空間的需求

典型應(yīng)用

適用于各種領(lǐng)域,例如: 飲料, 生物技術(shù), 化學(xué)試劑, 食物, 地質(zhì) / 礦產(chǎn), 醫(yī)藥品, 金屬粉末, 金屬, 色素, 聚合物, 粉末涂料, ... 


化學(xué)試劑                                                                   電池材料                                                                    粉末

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍 0.01 µm - 2.8 mm
測(cè)量原理 激光衍射
激光源 1x 紅 780 nm
2x 藍(lán) 405 nm
激光功率 紅色激光標(biāo)稱 3mW
藍(lán)色激光標(biāo)稱 4-8mW
檢測(cè)系統(tǒng) 兩個(gè)固定的光電檢測(cè)器,其對(duì)數(shù)間隔的段依照正確的角度放置,從而使用151個(gè)檢測(cè)器段從0.02到165度進(jìn)行散射光檢測(cè)。
數(shù)據(jù) 體積,數(shù)量和面積分布以及百分位和其他摘要數(shù)據(jù)
數(shù)據(jù)格式 以O(shè)DBC格式存儲(chǔ)在加密的Microsoft Access數(shù)據(jù)庫中,以確保與外部統(tǒng)計(jì)軟件應(yīng)用程序兼容。
數(shù)據(jù)完整性 可以使用符合FDA 21 CFR Part 11的安全功能來確保數(shù)據(jù)完整性,包括密碼保護(hù),電子簽名和權(quán)限分配
測(cè)量時(shí)間 ?10至30秒
功率要求 交流輸入:90-132 VAC,47-63 Hz,單相
200至265 VAC,47-63 Hz,單相
耗電量 標(biāo)稱25 W,50 W (取決于安裝的選項(xiàng))
環(huán)境條件 溫度。攝氏5度至40度(華氏50度至95度)
濕度:90%RH,非冷凝值
儲(chǔ)存溫度:-10度至50度(華氏14度至122度)(干燥)
污染。2度
采用材料規(guī)格 外殼材料。鋼和抗沖擊塑料
外表面采用抗腐蝕油漆或電鍍處理
設(shè)備尺寸(寬x高x深) ~ 560 x 360 x 460 mm (22 x 14 x 18 in)
重量 ?27公斤(60磅)
分散器供氣 100 psi (689 kPa)壓力
5 CFM (8,5 m3/h) 50 psi (345 kPa)最小流量
無干燥污染物、濕氣和油污
真空要求 真空度必須超過50 CFM
作用原理

通過三個(gè)激光器和兩個(gè)檢測(cè)器在固定位置的陣列的組合,三激光系統(tǒng)容許從前方低角度區(qū)域作出幾乎整個(gè)散射角譜(0.2?165度)的光散射測(cè)量。 激光從近軸到大約60度的產(chǎn)生散射,并由前向陣列和高角度陣列檢測(cè)到,這兩個(gè)陣列的各個(gè)檢測(cè)器段的對(duì)數(shù)間距都為對(duì)數(shù)。 放置第二個(gè)激光(離軸)以產(chǎn)生超過60度水平的散射,該散射可以使用相同的檢測(cè)器陣列進(jìn)行檢測(cè)。 再次使用相同的檢測(cè)器陣列定位第三激光(離軸)以產(chǎn)生反向散射。 該技術(shù)增加了可用于檢測(cè)散射光的傳感器數(shù)量。

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