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PCT老化試驗箱 非飽和

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  • PCT老化試驗箱  非飽和

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  • 型號 APCT系列
  • 品牌
  • 廠商性質 其他
  • 所在地 東莞市

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更新時間:2023-02-21 09:04:32瀏覽次數(shù):276

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產(chǎn)品簡介

PCT高壓加速老化試驗機廣泛用于IC、半導體、PCB線路板、光伏組件等行業(yè),通過環(huán)境應力(溫濕度、壓力)與工作應力加速老化試驗過程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。PCT高壓加速老化試驗箱最主要是測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰Γ郎y品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引......

詳細介紹

| 產(chǎn)品介紹

PCT老化試驗箱 非飽和

APCT系列

突出特點:

不銹鋼圓型內(nèi)箱結構,符合工業(yè)安全容器標準,可防止試驗中結露滴水設計;采用抽屜式大容量水箱,試驗時間長,并易拆卸清洗;蒸發(fā)器采用水浸查漏方法,查漏,確保設備穩(wěn)定運行;采用觸摸屏控制器,多項安全保護措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法功能顯示;采用觸摸屏控制器;蒸發(fā)器采用水浸查漏方法,查漏,確保設備穩(wěn)定運行;搭載進口控制系統(tǒng)微電腦 P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度,帶有水位不足時提供警示功。

合作案例

技術參數(shù)

型號APCT -
25A30A40B50B25C30C
控制器中英文顯示,具有USB,R-232C接口,RS-485通信功能,數(shù)據(jù)曲線下載
    控制精度:溫度:0.1℃,濕度:0.1%RH,壓力:0.1kg/cm2
性能溫度范圍105℃~132℃105℃~142.9℃105℃~155℃
濕度范圍65%RH~99%RH(可調)
溫濕波動度非飽和控制:±0.5℃/±2.5%RH;濕潤飽和控制:±0.5℃/99%RH
溫濕均勻度±0.5℃/±5.0%RH
壓力范圍表壓力+0.2~2.0kg/cm2表壓力+0.2~3.0kg/cm2表壓力+0.2~3.5kg/cm2
加壓時間大約45分鐘大約50分鐘大約55分鐘
偏壓端子標配8條(8~55條可選),交直流125V   1A
氣源增壓有外接氣源有外接氣源有外接氣源
循環(huán)方式風葉強制對流循環(huán)
標稱內(nèi)容積17L31L69L117L17L31L
內(nèi)箱尺寸
    (直徑x深)cm
Φ25xD35Φ30xD45Φ40xD55Φ50xD60Φ25xD35Φ30xD45
外箱尺寸
    (寬x深x高)cm
566676865666
105125135145105125
6510511513565105
材質內(nèi)箱SUS316#不銹鋼
外箱冷軋鋼板靜電噴涂
保溫玻璃棉
密封進口硅膠密封條
試樣架試樣架隔板(標配2套),可定制專用試樣架
控制面板控制器、電源開關鍵、工序顯示燈、報警燈、機械壓力表、手動緊急泄壓閥、USB接口、R-485接口
壓力容器加熱器、加濕器、溫度傳感器、試樣信號端子、對流風扇、對流風扇電動機、防過熱/干燒檢測端子
供水方式自動供水
安全保護

試驗時全程檢測超溫超壓保護,

階段儀表內(nèi)部超高溫保護;第二階段儀表內(nèi)部加濕器缺水保護,高壓力保護,水箱缺水報警斷電,

第二階段超高壓保護;第三階段緊急泄壓保護,手動泄壓保護,自動泄壓等



注:以上技術參數(shù)為室溫+20℃或循環(huán)水溫+25℃、空載(無試樣)時下所測得。

試驗標準及方法

MS IEC 60068-2-66-2008  環(huán)境試驗 第2-66部分-試驗方法 試驗Cx-穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽和加壓蒸汽)

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