DM8000 M 半導體顯微鏡

徠卡 DM8000 M 提供了全新的光學設(shè)計，如理想的 宏觀檢查模式 或者傾斜紫外光 (OUV, 隨檢UV 選擇) 不但提高了分辨能力，同時也增加了觀察 8" /200 毫米直徑大樣品 時的產(chǎn)量。

該機照明 基于的 LED 科技 ，一體化整合在顯微鏡機身上。 低熱輻射效應和一體化內(nèi)置技術(shù)確保了顯微鏡四周空間具有 理想化的空氣環(huán)流。 LED的超長使用壽命和低能耗特性大大降低了用戶 今后的使用成本.。

只要一指按鍵 您就可以切換放大倍率, 照明模式或相襯模式。

視野擴大四倍以上

宏觀放大功能 使您可以比傳統(tǒng)掃描物鏡多看四倍以上的視野。

極限分辨率

全新的傾斜紫外模式 (OUV) 在紫外光基礎(chǔ)上結(jié)合了傾斜光設(shè)計理念，確保您可以從任何角度都得到可見物理光學的極限分辨率。

人機工程學設(shè)計

非常適合 長時間在顯微鏡上工作, 直觀操作適應任何程度的使用者。