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什么是X射線熒光(XRF)光譜儀
閱讀:1097 發(fā)布時間:2022-5-11什么是X射線熒光(XRF)光譜儀 X-ray Fluorescence Analysis
1895 年德國巴伐利亞州維爾茨堡大學的倫琴教授(W .C .R迸ntgen)在實驗室里發(fā)現(xiàn)了一種新的輻射 ,這是一種能透過人的骨組織 ,又能使照相底片感光 ,穿透力的射線。 由于不清楚這種射線的本質 ,于是用 “X" 這個數學上表示未知數的符號來命名它 ,這就是 X 射線 ,也被稱為倫琴射線
當試樣受到x射線高能粒子束,紫外光等照射時,由于高能粒子或光子與試樣原子碰撞,將原子內層電子逐出形成空穴,使原子處于激發(fā)態(tài)
,這種激發(fā)態(tài)離子壽命很短,當外層電子向內層空穴躍遷時,多余的能量即以x射線的形式放出,并在外層產生新的空穴和產生新的x射線發(fā)射,這樣便產生一系列的特征x射線
X 射線熒光光譜分析(X-ray fluorescence analysis ,XRF spectromter)是一種非破壞性的儀器分析方法。 它是由 X 射線管發(fā)出的一次 X 射線激發(fā)樣品 ,使樣品所含元素輻射特征熒光 X 射線 ,也就是二次 X 射線 ,根據譜線的波長和強度對被測樣品中元素進行定性和定量分析。 X 射線熒光光譜法也被稱為 X 射線二次發(fā)射光譜法。
常用的化學元素分析方法有濕法化學分析和儀器分析。 儀器分析通常包括原子發(fā)射光譜法、原子吸收光譜法、質譜法、X 射線熒光光譜法等。 X 射線熒光光譜分析是目前材料化學元素分析方法中發(fā)展 、應用領域、的分析方法之一 ,并在常規(guī)生產中很大程度上取代了傳統(tǒng)的濕法化學分析. 下圖是X射線熒光光譜儀產生的一張樣品譜圖。