掃描電子顯微鏡

3800B型掃描電子顯微鏡，是在幾十年的研究和生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)基礎(chǔ)上，引用現(xiàn)代計(jì)算機(jī)及數(shù)字圖象技術(shù)，開(kāi)發(fā)出的高性能產(chǎn)品

3800B 型掃描電子顯微鏡，是在幾十年的研究和生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)基礎(chǔ)上，引用現(xiàn)代計(jì)算機(jī)及數(shù)字圖象技術(shù)，開(kāi)發(fā)出的高性能產(chǎn)品。廣泛應(yīng)用于金屬材料失效分析領(lǐng)域，石油、地質(zhì)、礦物領(lǐng)域，電子、半導(dǎo)體領(lǐng)域，醫(yī)學(xué)、生物學(xué)領(lǐng)域，化工、高分子材料領(lǐng)域，刑偵工作領(lǐng)域，農(nóng)、林業(yè)方面。
3800B 型掃描電子顯微鏡鏡 產(chǎn)品信息

型號(hào)：	3800B 型電鏡
技術(shù)指標(biāo)：	分辨率　　　 　4.5nm（鎢絲陰極） 放大倍數(shù)　　 15X～250000X 電子光學(xué)系統(tǒng) 電子槍： 發(fā)叉式鎢絲陰極 加速電壓：0～30kV 透鏡系統(tǒng)：三級(jí)電磁透鏡 物鏡光闌：三個(gè)可在真空外選擇調(diào)節(jié) 樣品室　　　　六個(gè)接口，可接WDS、EDS、BSE等多種探測(cè)器 樣品臺(tái) 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)位移：X=50mm，Y=50mm，Z=25mm，T=-5°～+90°，R=360° 大樣品臺(tái)位移： X=80mm，Y=50mm，Z=30mm，T= 0°～+90°，R=360°
應(yīng)用領(lǐng)域：	金屬材料失效分析領(lǐng)域石油、地質(zhì)、礦物領(lǐng)域 電子、半導(dǎo)體領(lǐng)域 醫(yī)學(xué)、生物學(xué)領(lǐng)域 化工、高分子材料領(lǐng)域刑偵工作領(lǐng)域農(nóng)、林業(yè)方面。