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ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSZneoSE

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更新時間：2024-10-15 07:31:34瀏覽次數(shù)：53次

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  納米粒度儀

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大塚電子（蘇州）有限公司

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所在地區(qū)：江蘇蘇州市

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產(chǎn)品簡介

本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。...

詳細介紹

產(chǎn)品信息

特點

● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測定)

● 可以用標準流動池連續(xù)測量粒徑和zeta電位

● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位

● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位

● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內(nèi)進行測量

● 通過溫度梯度功能，可對蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進行解析

● 通過樣品池內(nèi)的實測電氣浸透流圖分析，提供高精度的ZETA電位測量結(jié)果

● 可安裝熒光濾光器(選配)

用途

非常適用于界面化學、無機物質(zhì)、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫(yī)學領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學研究。

●新型功能材料領(lǐng)域

- 燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）

- 納米生物相關(guān)（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等。

●陶瓷/著色材料工業(yè)領(lǐng)域

- 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）

- 無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制

- 顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機顏料）

- 漿料狀樣品

- 濾光器

- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究

●半導體領(lǐng)域

- 異物附著在硅晶片表面的原理解析

- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究

- CMP漿料的相互作用

●聚合物/化工領(lǐng)域

- 乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）

- 聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能研究

- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究

●制藥/食品工業(yè)領(lǐng)域　

- 乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機能性檢測

- 脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機能性檢測

粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）

由于溶液中的粒子根據(jù)粒子的大小在做布朗運動，粒子受到光照射時會得到的散射光。小粒子呈現(xiàn)快速波動，大粒子呈現(xiàn)緩慢波動。

通過光子相關(guān)法分析這種波動，就可以求得粒度和粒度分布。

分析流程

zeta電位測量原理：電泳光散射法（激光多普勒法）

對溶液中的粒子施加電場時，可以觀察到粒子電荷所對應(yīng)的電泳動。籍由此電泳速度可以求得ZETA電位及電泳移動度。
電泳散射法將光照射在泳動中的粒子上得到散射光，根據(jù)散射光的多普勒位移量求得電泳速度。
因此也被稱之為激光多普勒（Laser Doppler）法。

實測電滲流的優(yōu)點

電滲流是指在zeta電勢測量期間cell內(nèi)發(fā)生的溶液流。當cell壁表面帶電時，溶液中的抗衡離子會聚集在cell 壁表面上。當施加電場時，抗衡離子以相反的符號移動到電極側(cè)，并且在cell 的中心附近發(fā)生反向流動以補償流動。通過實際測量顆粒的表觀電泳遷移率并分析電滲流，可獲得考慮到 cell 污染（例如樣品的吸附和沉降）的影響的正確的靜止面面，并可獲得真實的zeta電勢/電泳遷移率。（森?岡本公式參照）

森·岡本公式

充分考慮電滲流后進行樣品池內(nèi)泳動速度的解析

z:距單元中心位置的距離

Uobs（z）：在單元中位置z處的表觀遷移率

A=1/[（2/3）-（0.420166/k）]

k=a/b:2a和2b是電泳單元截面的橫和縱的長度

上方向：粒子的真實遷移率

U0:單元上下壁面的平均遷移率

⊿U0:單元上下壁面的遷移率差

無標題.png

電滲透流應(yīng)用于多成分解析

ELSZ Series通過實測樣品內(nèi)多點觀察到的電泳移動度，可以確認測量數(shù)據(jù)內(nèi)ZETA電位分布的再現(xiàn)性及判定雜質(zhì)的波峰。

固體平板樣品池的應(yīng)用

固體平板樣品池是將固體平板樣品緊密接觸于盒型石英樣品池上方而形成一體的構(gòu)造。

實測樣品池高度方向各層觀測粒子的電泳移動度，根據(jù)所得到的電滲流Profile可分析出固體表面電滲流速度，進而求得平板樣品表面的ZETA電位。

無標題.png

高濃度樣品池的測量原理

對于光不易穿透的高濃度樣品或有色樣品，由于受到多重散射和吸收等影響，以往使用的ELSZ series很難測量到所需結(jié)果。

但現(xiàn)在，ELSZ series搭載的標準樣品池的測量范圍擴大，可測量稀溶液樣品及至高濃度溶液樣品，并且，通過采用FST法的高濃度樣品池可測量高濃度樣品領(lǐng)域的ZETA電位。

無標題.png

測定項目

●Zeta電位

●粒徑

參數(shù)

測量原理	粒徑	動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）
	ZETA電位	電泳光散射法（激光多普勒法）
	分子量	靜態(tài)光散射法
光學系統(tǒng)	粒徑	零差光學系統(tǒng)
	ZETA電位	外差光學
	分子量	零差光學系統(tǒng)
光源	高功率半導體激光器
探測器	高靈敏度APD
樣品池單元	ZETA電位：標準池微量一次性池或濃縮池
	粒度/分子量：方形池
溫度	0~90℃（帶溫度梯度功能）
電源	220V ± 10% 250VA
尺寸(WDH)	330(W)×565(D)×245(H)
重量	22Kg