低溫環(huán)境箱

低溫環(huán)境箱適用于、航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、汽車各種電子元?dú)饧诟叩蜏丨h(huán)境下、檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
性能特點(diǎn)
　　具有及寬的溫度控制范圍和*的控制精度，可滿足國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》1、2項(xiàng)的試驗(yàn)要求。
　　采用*的平衡調(diào)溫方式，可調(diào)節(jié)理想溫度環(huán)境，可進(jìn)行高精度、高穩(wěn)定的溫度控制。
　　制冷控制：PLC根據(jù)箱內(nèi)溫度的設(shè)定值和實(shí)際值自動(dòng)控制壓縮機(jī)和制冷閥，滿足不同的試驗(yàn)要求，減少設(shè)備運(yùn)行功率，確保壓縮機(jī)的安全運(yùn)行。

低溫環(huán)境箱符合標(biāo)準(zhǔn)
　　GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件　
　　GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
　　GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　
　　GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
　　GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
　　GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
　　GB/T2424.1-2015/IEC 60068-3-1：2011 環(huán)境試驗(yàn) 第3部分:支持文件及導(dǎo)則 低溫和高溫試驗(yàn)GJB 150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第３部分：高溫試驗(yàn)
　　GJB 150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)
　　GB/T2951.12-2008/IEC 60811-1-2：1985；GB/T2951.14-2008/IEC 60811-1-4：1985；