詳細(xì)介紹
主要特點(diǎn):
手動(dòng)轉(zhuǎn)塔;
無(wú)摩擦主軸,試驗(yàn)力精度高;
高精度光學(xué)測(cè)量系統(tǒng),精密座標(biāo)試臺(tái);
中/英文界面轉(zhuǎn)換;
試驗(yàn)過(guò)程自動(dòng)化,操作簡(jiǎn)單,無(wú)人為操作誤差;
可選配努氏壓頭進(jìn)行努氏硬度試驗(yàn);
可選配CCD攝像裝置及圖像處理系統(tǒng);
精度符合GB/T4340.2 ISO6507-2和美國(guó)ASTM E384。
應(yīng)用范圍:
滲碳層、陶瓷、鋼、有色金屬;
薄板、金屬薄片、電鍍層、微小試件;
氮化層、滲碳層和淬火硬化層的深度測(cè)量;
適用于平行平面和微小零件及超薄零件的精密顯微維氏硬度測(cè)量。
硬度范圍 5-3000HV
試驗(yàn)力 0.09807、0.2452、0.4903、0.9807、1.961、2.942、4.903、9.807牛頓
(10、25、50、100、200、300、500、1000克力)
硬度標(biāo)尺 HV0.01、HV0.025、HV0.05、HV0.1、HV0.2、HV0.3、HV0.5、HV1
總放大倍率: 400X(測(cè)量)、100X(觀察)
分辨率:0.25um
測(cè)量范圍 200um
精度 符合GB/T4340.2--1999
試樣允許高度: 75mm
壓頭中心至機(jī)壁距離:110mm
電源 交流220伏,50/60赫茲
外形尺寸 470*320*500mm
重量 約40千克
標(biāo)準(zhǔn)配備:
座標(biāo)試臺(tái):(臺(tái)面尺寸100*100mm、行程25*25mm、測(cè)微頭分度值0.01mm)1個(gè)
細(xì)軸試臺(tái):1個(gè) 薄板試臺(tái):1個(gè) 平口鉗:1個(gè) 大、小V型塊:各1個(gè)
金剛石角錐壓頭:1個(gè) 標(biāo)準(zhǔn)顯微硬度塊:2塊
任選配置:
努普壓頭 CCD維氏圖像處理系統(tǒng)