詳細(xì)介紹
主要特點(diǎn):
自動(dòng)轉(zhuǎn)塔;
無摩擦主軸,試驗(yàn)力精度高;
高精度光學(xué)測(cè)量系統(tǒng),精密坐標(biāo)試臺(tái);
中/英文界面轉(zhuǎn)換;
各種硬度值轉(zhuǎn)換;
試驗(yàn)過程自動(dòng)化,操作簡(jiǎn)單,無人為操作誤差;
RS232數(shù)據(jù)接口;
可選配努氏壓頭進(jìn)行努氏硬度試驗(yàn);
可選配CCD攝像裝置及圖像處理系統(tǒng);
精度符合GB/T4340.2 ISO6507-2和美國(guó)ASTM E384.
應(yīng)用范圍:
滲氮層、陶瓷、鋼、有色金屬;
薄板、金屬薄片、電鍍層、微波試件;
碳化層、脫碳層和淬火硬化層的深度測(cè)量;
適用于平行平面和微波零件及超薄零件的精密維氏測(cè)量。
主要技術(shù)規(guī)格:
測(cè)量范圍:5-3000HV
試驗(yàn)力:0.09807 0.2452 0.4903 0.9807 1.961 2.942 4.903 9.807N(10 25 50 100 200 300 500 1000克力)
硬度標(biāo)尺:HV0.01 HV0.025 HV0.05 HV0.1 HV0.2 HV0.3 HV0.5 HV1
測(cè)量系統(tǒng)放大倍率:400X(測(cè)量) 100X(觀察)
檢測(cè)單位:0.01um
試樣允許高度:75mm
壓頭中心至機(jī)壁距離:110mm
電源:AC220V,50/60HZ
外型尺寸:470*320*500mm
重量:約40kg
標(biāo)準(zhǔn)配備:
座標(biāo)試臺(tái):1個(gè) 細(xì)軸試臺(tái):1個(gè) 薄板試臺(tái):1個(gè)
平口鉗:1個(gè) 大V型塊、小V型塊:各1個(gè)
金剛石角錐壓頭:1個(gè) 標(biāo)準(zhǔn)顯微硬度塊:2塊 打印機(jī):1個(gè)
任選配置:
努普壓頭 CCD維氏圖像處理系統(tǒng)