詳細(xì)介紹
特色
表面光源可以用全域控制、環(huán)形控制、1/8圓或1/4圓的方向區(qū)塊控制或是單獨(dú)的區(qū)段控制等模式來選擇使用。
每個區(qū)塊都可以隨意控制,使被測工件的影像更清晰去除陰影部分的干擾,使難以觀察的邊緣清晰呈現(xiàn)。
使用下方的按鍵來切換選擇,右邊的滾動條來調(diào)整亮度。使用者可以同時使用多個區(qū)段的光源,先按住Ctrl鍵,再點(diǎn)選需使用的光源區(qū)段,或是用鼠標(biāo)拖拽框選需使用的光源區(qū)段。
五環(huán)表面光源使用的范例:
環(huán)形控制
區(qū)段控制
區(qū)塊控制
全域控制
提供長與短工作距離的選擇
使用2X物鏡會縮短鏡頭與工件之間的工作距離,而因?yàn)殡x工件較近所以也須使用2X表面環(huán)形光源。由于2X表面環(huán)形光源的亮度更強(qiáng)且光線入射角度更接近水平,更有利于觀察與測量特殊邊緣與凹槽;
相對地,未安裝2X物鏡時,工作距離會較長,1X表面環(huán)形光源的光源亮度也較暗一些,光線入射角度更接近垂直。
附加資料:
Micro-Vu影像測量儀高效的光源功能包括:表面光源,輪廓光源,同軸光源。
輪廓光源
輪廓光源由工件的下方發(fā)出,用來測量穿透孔與工件邊緣。單獨(dú)使用輪廓光源來觀察工件會得到一個輪廓明顯,邊緣對比度高的黑白影像。
同軸光源
同軸光源由鏡頭的側(cè)面發(fā)出,透過鏡頭內(nèi)的半反射鏡反射,然后聚光向下穿透鏡頭中心照射在工件表面。同軸光源應(yīng)用在高倍率測量、盲孔以及平坦面上的元素測量。