PCT老化試驗箱

PCT老化試驗箱箱體采用激光加工而成，生產(chǎn)效率快、箱體結(jié)構(gòu)平整光滑。PCT老化試驗箱采用大容量水箱，水循環(huán)利用，試驗時間長。能快速檢測出產(chǎn)品的各項性能。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。?

一、PCT老化試驗箱用途：

主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。

二、PCT老化試驗箱特點：

1、PCT高壓加速試驗箱一家采用全自動補充水位之功能,試驗中斷.
2、試驗過程的溫度、濕度、壓力，是真正讀取相關(guān)傳感器的讀值來顯示的，而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的，真正體現(xiàn)了實際的試驗參數(shù)。
3、干燥設(shè)計，采用電熱干燥設(shè)計確保測試區(qū)(待測品)的干燥，確保穩(wěn)定性。
4、精準的壓力/溫度對照顯示，*符合溫濕度壓力對照表要求。
5、LED數(shù)字型定時器，當鍋內(nèi)溫度達到設(shè)定值后才開始計時以確保試驗*。
6、開始運轉(zhuǎn)時流水器自動排出未飽和蒸氣以達到*佳蒸氣質(zhì)量。
三、PCT老化試驗箱技術(shù)參數(shù)：

1.內(nèi)箱尺寸: 300×450 mm(φ×D)圓形試驗箱.

2.外箱尺寸: 700×900×650 mm(W×H×D) 

3.內(nèi)箱材質(zhì) : SUS 316#不銹鋼板材質(zhì).

4.外箱材質(zhì)： 上等烤漆。

5.溫度范圍 : 100℃～132℃.  (飽和蒸氣溫度).

6.濕度范圍 : RH .  (飽和蒸氣濕度).

7.壓力范圍（表上壓力） : 0.0Kg/cm2～2.0Kg/cm2控制點壓力 (安全壓力容量3.5Kg/cm2 ).

8.時間范圍: 0 ～ 999 小時可調(diào).

9.溫度分布: ≤± 2.0℃.

10.升溫時間:常溫 ～ 132℃約40分鐘內(nèi). （控制點溫度）.

11.加壓時間:0.0Kg/cm2 ～ 2.0Kg/cm2 約45分鐘內(nèi)（控制點壓力）.

12.控制對象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度.

13.控制方式:微電腦PID控制.

14.控制精度: ≤± 0.5℃.

15.解析精度:0.1℃.

以下是PCT老化試驗箱圖片

東莞鵬銳試驗設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)PCT老化試驗箱，高壓加速老化試驗箱，高壓老化試驗箱，高壓加速老化試驗機，高壓壽命老化試驗機等非標飽和高壓試驗箱。