偏光顯微鏡Axio Imager 2

程序簡便，操作可靠

您是否正在尋找一款能夠可靠地進行檢測分析、獲得高質量檢測結果且簡便易用的顯微鏡？智能Axio Imager偏光顯微鏡堪稱是您的理想選擇。

該系列顯微鏡有編碼型、部分電動型或全電動型可供選擇，滿足您的個性化需求。

優(yōu)勢

薄層太陽能電池表面，Axio Imager，透射光偏光加λ片

自動識別組件，讓您事半功倍

借助自動組件識別（ACR）功能，使您能夠始終方便地使用顯微鏡設置。所有電動主機架能夠自動識別物鏡。此外，ACR還能在全電動主機架中識別反射光模塊。Axio Imager能自動對組件的變換進行記錄。

無振動設計確保長時間成像的可靠性

借助Axio Imager出色的穩(wěn)定性得以實現可隨時間變化的測量和高放大倍率觀察，物鏡轉盤、z軸升降臺和載物臺被設計為一個緊湊式無振動單元，獨立于主機架的其余部分。這種“穩(wěn)定單元"結構設計為獲得高質量的檢測結果創(chuàng)造了理想的測量條件。

功能豐富，操作舒適

·  簡化復雜的程序。通過主機架或外置工作站上的觸摸屏來控制所有電動化組件。

·  保存?zhèn)€性化設置，一鍵即可輕松還原設置。聚焦操作方便直觀 – 符合人體工程學設計的觸控式按鈕。

·  或者，通過任意擺放的控制面板（可*與主機架分離）來操作偏光顯微鏡系統(tǒng)。觀察方式和光路管理器能夠自動選擇理想設置，以生成可重復且可靠的觀測結果

方法

錐鏡檢查：使用偏光顯微鏡可以實現快速可靠的晶體結構分析

使用偏光顯微鏡能夠同時采集無畸變的和錐光的圖像信息。借助特別設計的Pol以及額外的中間像平面，可以同時看到物體、十字線和光圈。通過調節(jié)型可變光闌能夠將錐光觀測范圍縮小至10μm 的晶體粒度。預先居中的Bertrand光學可以輕松打開和關閉。這一特性讓您即使在捕獲圖像或使用視頻設備時，也可以在各種之間快速切換。

一致的測量性能

·  借助可360°刻度和0.1°游標的旋轉、載物臺可以輕松實現測量（例如：用于測量礦物的解理角）。

·  光程差測定或應變測量

具有固定光程差的補償器

·  全波片λ

·  四分之一波片λ/4

·  全波片λ，可旋轉+/- 8°

大量光譜補償器可選，涵蓋從0至30λ的測量范圍。

具有可變光程差的補償器

·  光楔補償器0-4λ

·  測量補償器

  Berek傾斜補償器0-5λ

  Berek傾斜補償器0-30λ

Axio Imager可應用于更多方法，例如：

·  熱顯微分析

·  使用蔡司ZEN Core軟件進行數字分析（例如，使用晶粒度分析或顆粒度分析）

應用

Coolidge隕石中的棒橄欖球粒

樣本：Jutta Zipfel博士，德國法蘭克福森肯伯格研究博物館隕石研究部