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FASTCAM SA-X2 詳細(xì)摘要: FASTCAM SA-X2
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FASTCAM SA-Z 詳細(xì)摘要: 像素1
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FASTCAM NOVA 詳細(xì)摘要: 「FASTCAMNova」是一款兼顧了超高速攝像性能和小型輕巧的外觀的高速攝像機
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UNITECH UC-250BV–毛刷款 詳細(xì)摘要: 日本UNITECH優(yōu)尼泰克是自主研公司
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UNITECH UC-250M–滾輪款 詳細(xì)摘要: 日本UNITECH優(yōu)尼泰克是自主研公司
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UNITECH UC-250M-CV–毛刷+滾輪款 詳細(xì)摘要: 日本UNITECH優(yōu)尼泰克是自主研公司
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Nikon工業(yè)X射線/CT檢測系統(tǒng) 詳細(xì)摘要: X射線/CT檢查系統(tǒng)用于測量產(chǎn)品的復(fù)雜內(nèi)部結(jié)構(gòu)并探測其內(nèi)部的所有故障,任何一個步驟均不需對產(chǎn)品進行拆解
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ZEISS CONTURA-緊湊機型的標(biāo)準(zhǔn)機型 詳細(xì)摘要: CONTURA-來自蔡司的靈活、可靠和的*測量平臺
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ZEISS MICURA-小尺寸零件高精度測量 詳細(xì)摘要: ZEISSMICURA解決方案的開發(fā),專門針對工業(yè)生產(chǎn)中零部件加工變得越來越緊湊,而精度要求不斷提高的新需求
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ZEISS ACCURA–模塊化定制解決方案 詳細(xì)摘要: ACCURA即使在溫度波動變化環(huán)境中,也能確保在高度的前提下實現(xiàn)高速檢測
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ZEISS PRISMO–高速、高精度掃描技術(shù) 詳細(xì)摘要: PRISMOnavigator可速獲取準(zhǔn)確的測量結(jié)果
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ZEISS XENOS – 機型 詳細(xì)摘要: XENOS可在各類要求高測量精度的領(lǐng)域使用從科研機構(gòu)的測量實驗室、航空和航天工業(yè)直至光學(xué)工業(yè)
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ZEISS SPECTRUM–高性價比測量平臺 詳細(xì)摘要: 通用經(jīng)濟型三坐標(biāo)測量機SPECTRUM集成了蔡司成熟的測量技術(shù)
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Mahr Marsurf LD 130 Aspheric/LD 260非球面 詳細(xì)摘要: MarsurfLD130Aspheric/LD260非球面工作站是一個高精度的2D/3D表面測量站,用于對光學(xué)元件的輪廓和粗糙度進行特征化
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Mahr MarSurf XC20 詳細(xì)摘要: MarSurfXC20是輪廓計量設(shè)備
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Mahr MarSurf XR20 詳細(xì)摘要: MarSurfXR20的表面測量儀器,使粗糙度和波紋度測量更加容易
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奧林巴斯CIX100清潔度檢測系統(tǒng) 詳細(xì)摘要: 清潔度檢測組件與零部件的清潔對于生產(chǎn)工藝十分重要
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奧林巴斯BX53-P型研究級專業(yè)偏光顯微鏡 詳細(xì)摘要: UIS2物鏡觀察到的鮮明影像能夠?qū)崿F(xiàn)最小光學(xué)失真的偏振光用物鏡ACHN-P、UPLFLN-P系列產(chǎn)品中選擇所需產(chǎn)品
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奧林巴斯CX31-P入門級偏光顯微鏡 詳細(xì)摘要: 奧林巴斯偏光顯微鏡的光學(xué)性能操作簡便,能進行正規(guī)偏振光觀察的小型型號形體小,能執(zhí)行正規(guī)偏振光觀察和多種延遲測量
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奧林巴斯SZX16研究級系統(tǒng)立體顯微鏡 詳細(xì)摘要: SZX16研究級系統(tǒng)立體顯微鏡詳細(xì)介紹:光學(xué)性能帶來的鮮明觀察影像16.4倍超大變焦比0.7倍~11.5倍的變焦范圍,不需要交換物鏡就能一次性觀察樣品的整體和細(xì)...
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