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Duke 2014A均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子 詳細(xì)摘要: Duke 2014A均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子l 光阻礙l 光分散l 聲學(xué)成像l 電荷位移l 其它用于分析較寬尺寸材料的方法
產(chǎn)品型號(hào):2014 所在地: 更新時(shí)間:2021-07-27 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Duke 2025A均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子 詳細(xì)摘要: Duke 2025A均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子l 光阻礙l 光分散l 聲學(xué)成像l 電荷位移l 其它用于分析較寬尺寸材料的方法
產(chǎn)品型號(hào):2025A 所在地: 更新時(shí)間:2021-07-27 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Duke 2040A均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子 詳細(xì)摘要: Duke 2040A均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子l 光阻礙l 光分散l 聲學(xué)成像l 電荷位移l 其它用于分析較寬尺寸材料的方法
產(chǎn)品型號(hào):2040A 所在地: 更新時(shí)間:2021-07-27 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Duke 2030A均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子 詳細(xì)摘要: Duke 2030A均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子l 光阻礙l 光分散l 聲學(xué)成像l 電荷位移l 其它用于分析較寬尺寸材料的方法
產(chǎn)品型號(hào):2030 所在地: 更新時(shí)間:2021-07-27 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Duke 2020A均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子 詳細(xì)摘要: Duke 2020A均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子l 光阻礙l 光分散l 聲學(xué)成像l 電荷位移l 其它用于分析較寬尺寸材料的方法
產(chǎn)品型號(hào):2020A 所在地: 更新時(shí)間:2021-07-27 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Duke 2013A均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子 詳細(xì)摘要: Duke 2013A均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子l 光阻礙l 光分散l 聲學(xué)成像l 電荷位移l 其它用于分析較寬尺寸材料的方法
產(chǎn)品型號(hào):2013 所在地: 更新時(shí)間:2021-07-27 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Duke 2040A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子 詳細(xì)摘要: Duke 2040A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子光阻礙光分散聲學(xué)成像電荷位移其它用于分析較寬尺寸材料的方法NIST*溯源計(jì)量法測(cè)*,苯乙烯-對(duì)苯二烯共聚...
產(chǎn)品型號(hào):2000系列 所在地: 更新時(shí)間:2021-07-27 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Duke 2030A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子 詳細(xì)摘要: Duke 2030A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子光阻礙光分散聲學(xué)成像電荷位移其它用于分析較寬尺寸材料的方法NIST*溯源計(jì)量法測(cè)*,苯乙烯-對(duì)苯二烯共聚...
產(chǎn)品型號(hào):2000系列 所在地: 更新時(shí)間:2021-07-27 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Duke 2025A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子 詳細(xì)摘要: Duke 2025A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子光阻礙光分散聲學(xué)成像電荷位移其它用于分析較寬尺寸材料的方法NIST*溯源計(jì)量法測(cè)*,苯乙烯-對(duì)苯二烯共聚...
產(chǎn)品型號(hào):2000系列 所在地: 更新時(shí)間:2021-07-27 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Duke 2020A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子 詳細(xì)摘要: Duke 2020A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子光阻礙光分散聲學(xué)成像電荷位移其它用于分析較寬尺寸材料的方法NIST*溯源計(jì)量法測(cè)*,苯乙烯-對(duì)苯二烯共聚...
產(chǎn)品型號(hào):2000系列 所在地: 更新時(shí)間:2021-07-27 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Duke 2015A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子 詳細(xì)摘要: Duke 2015A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子光阻礙光分散聲學(xué)成像電荷位移其它用于分析較寬尺寸材料的方法NIST*溯源計(jì)量法測(cè)*,苯乙烯-對(duì)苯二烯共聚...
產(chǎn)品型號(hào):2000系列 所在地: 更新時(shí)間:2021-07-27 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Duke 2014A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子 詳細(xì)摘要: Duke 2014A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子光阻礙光分散聲學(xué)成像電荷位移其它用于分析較寬尺寸材料的方法NIST*溯源計(jì)量法測(cè)*,苯乙烯-對(duì)苯二烯共聚...
產(chǎn)品型號(hào):2000系列 所在地: 更新時(shí)間:2021-07-27 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Duke 2011A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子 詳細(xì)摘要: Duke 2011A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子光阻礙光分散聲學(xué)成像電荷位移其它用于分析較寬尺寸材料的方法NIST*溯源計(jì)量法測(cè)*,苯乙烯-對(duì)苯二烯共聚...
產(chǎn)品型號(hào):2000系列 所在地: 更新時(shí)間:2021-07-27 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Duke 2010A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子 詳細(xì)摘要: Duke 2010A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子光阻礙光分散聲學(xué)成像電荷位移其它用于分析較寬尺寸材料的方法NIST*溯源計(jì)量法測(cè)*,苯乙烯-對(duì)苯二烯共聚...
產(chǎn)品型號(hào):2000系列 所在地: 更新時(shí)間:2021-07-27 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Duke 2009A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子 詳細(xì)摘要: Duke 2009A 2000系列均勻尺度聚合物標(biāo)準(zhǔn)粒子光阻礙光分散聲學(xué)成像電荷位移其它用于分析較寬尺寸材料的方法NIST*溯源計(jì)量法測(cè)*,苯乙烯-對(duì)苯二烯共聚...
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Duke PD1100 SURF-CAL 尺度標(biāo)準(zhǔn)微粒 詳細(xì)摘要: Duke PD1100 SURF-CAL 尺度標(biāo)準(zhǔn)微粒NIST*溯源尺度標(biāo)準(zhǔn),用于需要高度視覺反差的尺度標(biāo)*和參考應(yīng)用領(lǐng)域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性...
產(chǎn)品型號(hào):SURF-CAL 所在地: 更新時(shí)間:2021-07-27 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Duke PD1600 SURF-CAL 尺度標(biāo)準(zhǔn)微粒 詳細(xì)摘要: Duke PD1600 SURF-CAL 尺度標(biāo)準(zhǔn)微粒NIST*溯源尺度標(biāo)準(zhǔn),用于需要高度視覺反差的尺度標(biāo)*和參考應(yīng)用領(lǐng)域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性...
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Duke PD2000 SURF-CAL 尺度標(biāo)準(zhǔn)微粒 詳細(xì)摘要: Duke PD2000 SURF-CAL 尺度標(biāo)準(zhǔn)微粒NIST*溯源尺度標(biāo)準(zhǔn),用于需要高度視覺反差的尺度標(biāo)*和參考應(yīng)用領(lǐng)域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性...
產(chǎn)品型號(hào):SURF-CAL 所在地: 更新時(shí)間:2021-07-27 參考價(jià): 面議 在線留言 -
Duke PD3000 SURF-CAL 尺度標(biāo)準(zhǔn)微粒 詳細(xì)摘要: Duke PD3000 SURF-CAL 尺度標(biāo)準(zhǔn)微粒NIST*溯源尺度標(biāo)準(zhǔn),用于需要高度視覺反差的尺度標(biāo)*和參考應(yīng)用領(lǐng)域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性...
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Duke PD-047 SURF-CAL 尺度標(biāo)準(zhǔn)微粒 詳細(xì)摘要: Duke PD-047 SURF-CAL 尺度標(biāo)準(zhǔn)微粒NIST*溯源尺度標(biāo)準(zhǔn),用于需要高度視覺反差的尺度標(biāo)*和參考應(yīng)用領(lǐng)域。SUR-CAL 為各種硅晶片的表面性...
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