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納米級(jí)別二氧化硅 SiO2標(biāo)準(zhǔn)粒子

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  • 納米級(jí)別二氧化硅 SiO2標(biāo)準(zhǔn)粒子

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更新時(shí)間:2021-07-28 13:20:06瀏覽次數(shù):609

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納米級(jí)別二氧化硅 SiO2標(biāo)準(zhǔn)粒子:易于微粒子撒粒系統(tǒng)、晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)或各類分析儀器偵測(cè)與量測(cè)尺寸峰值,納米級(jí)別二氧化硅 SiO2標(biāo)準(zhǔn)粒子

詳細(xì)介紹

納米級(jí)別二氧化硅 SiO2標(biāo)準(zhǔn)粒子

供應(yīng)商:上海瑞貝貿(mào)易有限公司

產(chǎn)品名稱:

SiO2微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液

納米級(jí)別二氧化硅

SiO2標(biāo)準(zhǔn)粒子

晶圓表面用二氧化硅

NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是由MSP Corporation制作的高度均勻尺寸SiO2微粒子濃縮水溶液,微粒子尺寸從18nm到200nm都*選擇,是市面上理想、質(zhì)量較高的校正標(biāo)準(zhǔn),適用于新一代的晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)及光罩檢查系統(tǒng)。

*的半導(dǎo)體檢查技術(shù)已經(jīng)發(fā)展到小于30nm,以往使用Polystyrene latex (PSL)球形化粒子即*做晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)及光罩檢查系統(tǒng)的校正,但新一代的檢查系統(tǒng)使用到Deep ultraviolet (DUV) or Extreme ultraviolet (EUV)才能檢查小于20nm的污染或缺陷,當(dāng)UV光重復(fù)打在PSL球形化粒子上,將影響到PSL球形化粒子的質(zhì)量; 由于SiO2微粒子在DUV及EUV的照射下?lián)碛蟹€(wěn)*的質(zhì)量,因此SiO2微粒子是較好的替代產(chǎn)品。

NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是使用有磚利的SiO2合成技術(shù),*以做到如PSL球形化粒子一樣的尺寸分布,從目前小的微粒子尺寸來(lái)看,NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是尺寸均勻,適合做尺寸大小峰值的量測(cè)的工具。

NIST-traceable NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是MSP Corporation透過(guò)National Institute of Standards and Technology (NIST)追溯到標(biāo)準(zhǔn)單位的產(chǎn)品,加上ISO 9000與SEMI的認(rèn)證,讓良率提升及表面檢查和缺陷評(píng)估有所依據(jù)。

NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液使用15-mL滴*,讓使用者操作更方便。每一瓶溶液的卷標(biāo)皆標(biāo)示產(chǎn)品編號(hào)、生產(chǎn)編號(hào)、微粒子尺寸峰值、尺寸分布半高寬及有效期限,而且提供NIST-traceable證明書與Material Safety Data Sheet (MSDS)說(shuō)明書。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

?尺寸大小分布均勻

?NIST traceability 的尺寸大小

?DUV及EUV的照射下?lián)碛蟹€(wěn)*的質(zhì)量

?高濃縮度微粒子懸浮溶液

產(chǎn)品效益

?易于微粒子撒粒系統(tǒng)、晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)或各類分析儀器偵測(cè)與量測(cè)尺寸峰值

?*避免平均尺寸與尺寸峰值的差異性

?適合氣膠產(chǎn)生設(shè)備使用

?提供耐久校正標(biāo)準(zhǔn)給先*進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備使用

?省錢而且耗用量少

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