詳細介紹
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通過分析光如何從薄膜反射來測量薄膜厚度。通過分析肉眼看不見的光譜我們能測量幾乎所有超過100原子厚度的非金屬薄膜。因為不涉及任何移動設備,幾秒鐘之內就能測出:薄膜厚度,折射率,甚至粗燥度!為工業(yè)界的精英們測量薄膜厚度。 在低價位膜厚測量應用上我們的測量系統(tǒng)有的占有率。 事實上我們Filmetrics是能夠提供滿足幾乎所有膜厚測量需求的產(chǎn)品。
應用領域
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蘇州倍瑟電子科技有限公司 |
參考價 | 面議 |
更新時間:2023-08-22 09:58:24瀏覽次數(shù):793
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通過分析光如何從薄膜反射來測量薄膜厚度。通過分析肉眼看不見的光譜我們能測量幾乎所有超過100原子厚度的非金屬薄膜。因為不涉及任何移動設備,幾秒鐘之內就能測出:薄膜厚度,折射率,甚至粗燥度!
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