Alpha-Step D-300探針式輪廓儀/臺階儀能夠測量從幾納米到1200微米的2D臺階高度。 D-300型探針式輪廓儀/臺階儀還可以在研發(fā)和生產環(huán)境中支持粗糙度、翹曲度和應力的2D測量。 D-300包括一個手動140毫米平臺和*的光學系統(tǒng)以及加強視頻控制。

產品描述

Alpha-Step D-300探針式輪廓儀（臺階儀）支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D測量。 創(chuàng)新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。

探針測量技術的一個優(yōu)點是它是一種直接測量，與材料特性無關。 可調節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結構和材料進行精確測量。

通過測量粗糙度和應力，可以對工藝進行量化，確定添加或去除的材料量，以及結構的任何變化。

產品主要特點

臺階高度：幾納米至1000μm

低觸力：0.5至15mg

視頻：500萬像素高分辨率彩色攝像頭

梯形失真校正：消除側視光學系統(tǒng)引起的失真

圓弧校正：消除由于探針的弧形運動引起的誤差

緊湊尺寸：占地面積小

主要應用

臺階高度：2D臺階高度

紋理：2D粗糙度和波紋度

形式：2D翹曲和形狀

應力：2D薄膜應力

工業(yè)應用

大學，研究實驗室和研究所

半導體和復合半導體

LED：發(fā)光二極管

太陽能

MEMS：微電子機械系統(tǒng)

汽車

醫(yī)療設備

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