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膜厚測(cè)量橢偏儀

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更新時(shí)間：2021-07-28 12:38:35瀏覽次數(shù)：252

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膜厚測(cè)量橢偏儀

詳細(xì)介紹

膜厚測(cè)量橢偏儀


型號(hào)： Smart SE                                                                                        
廠家：HORIBA Jobin Yvon
產(chǎn)地：法國(guó)
技術(shù)指標(biāo)：
 光譜范圍：450-1000nm
· 多種微光斑自動(dòng)選擇，精度<1nm
· 光斑可視技術(shù)，可觀測(cè)任何樣品表面
· CCD探測(cè)器
· 自動(dòng)樣品臺(tái)尺寸：200mmX200mm；XYZ方向
· 自動(dòng)調(diào)節(jié); Z軸高度>35mm
主要功能及應(yīng)用范圍：測(cè)試各種透明薄膜膜厚。
或

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