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強磁場低溫近場掃描顯微系統(tǒng)

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更新時間:2021-07-28 13:24:07瀏覽次數(shù):338

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產品簡介

強磁場低溫近場掃描顯微系統(tǒng)

詳細介紹

強磁場低溫近場掃描顯微系統(tǒng)


型號:attoSNOM-Ⅲ
廠家:德國Attocube Systems AG公司技術指標:
1. 配有兩個高精度定位的探針臺:
分別用于SNOM探針和額外光纖定位與移動;
2.工作溫度:1.8K-300K;         
3. 磁場強度:7Tesla;
4.液氦消耗速率:0.25 l/hr;    
5.溫度穩(wěn)定性:<0.05 K;
6.成像模式:形貌成像、反射光信號成像、投射光信號成像;
7.反饋調制方式:振幅調制、相位調制、頻率調制等;
8.樣品粗選區(qū)范圍:5×5×5mm3;  
9.粗位移步長:300K時為0.05-3μm;4K時為10-500nm
10.掃描范圍:300K時為40×40μm2;4K時為30×30μm2
11.典型分辨率:<200nm(取決于aperture的配置)
12. Z方向噪音:<50 pm/√Hz;Z方向分辨率:0.12 pm(掃描模式)
13.將來可進行功能拓展,選件包括:共聚焦顯微鏡、原子力顯微鏡
14.將來可進行工作溫度的拓展:300mK或更低
主要功能及應用范圍
AttoSNOM-Ⅲ系統(tǒng)是上一臺能在低溫與強磁場環(huán)境中,進行近場光學研究的設備,該系統(tǒng)適用于對各種材料的近場光學性質測量,其研究范圍包括了物理、材料、化學、生物等科學。所能測量的材料有金屬、半導體、磁性材料、有機材料等等,材料的形式可以是薄膜、塊材、單晶和納米材料等等。

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