D-30 低本底單路放射性檢測儀
D-30型高精度、低本底放射性測量儀就弱放射性樣品進行測量與分析,被測樣品可以是電沉積樣品,也可以直接鋪樣。所采用的分析儀器探頭靈敏區(qū)為f30mm金硅面壘半導體探測器,抗干擾屏蔽,本底低,功耗小。廣泛服務(wù)于地質(zhì)勘測、地質(zhì)調(diào)查、醫(yī)院、防疫站、礦山、環(huán)境監(jiān)測站、工廠的水質(zhì)、食品等檢驗其樣品的總a放射性活度,具有弱放射性測量儀功能。
技術(shù)參數(shù)
探測器:金硅面壘f30 mm,
儀器本底:≤2cph。
探測效率:≥36%(2π,239Pu源)
計數(shù)容量:99999999
定時測量:定時時間在1—9999min內(nèi)可選擇設(shè)置
測量范圍: 5×10-4 Bq/kg--5×106Bq/kg
靈敏度:優(yōu)于5×10-4 cpm/Bq/kg
穩(wěn)定性:≤5%
準確性:≤±5%
功 耗:: ≤200mW ; ≤600mW
使用條件:溫度 -5℃?50℃ ; 濕度 ≤95%(40℃)
供電電源:6v蓄電池,充電一次可工作12小時