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日立 離子研磨儀 IM4000II

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱富泰微科學(xué)儀器(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2024/4/3 15:35:53
  • 訪問(wèn)次數(shù)106
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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富泰微科學(xué)儀器(上海)有限公司總部坐落于上海,在江蘇設(shè)立辦事處。富泰微專注納米級(jí)微觀光學(xué)儀器研發(fā),銷售以及售后服務(wù)。主要產(chǎn)品包括:SEM掃描電子顯微鏡、AFM原子力顯微鏡、TEM透射電子顯微鏡、FIB聚焦離子束顯微鏡、共聚焦顯微鏡、浩視3D顯微鏡、ZYGO白光干涉儀、ZYGO激光干涉儀、臺(tái)階膜厚儀等納米級(jí)光學(xué)測(cè)量?jī)x器。 公司擁有專業(yè)化的管理團(tuán)隊(duì)和完善的管理體系,內(nèi)部建立了完善的服務(wù)平臺(tái)。從產(chǎn)品售前到售后服務(wù)都能進(jìn)行全程的跟蹤與管控。公司擁有多年行業(yè)管理和銷售經(jīng)驗(yàn),在細(xì)分行業(yè)中,得到行業(yè)中客戶及同行業(yè)的高度認(rèn)可。 我司產(chǎn)品被廣泛應(yīng)用于化工、電子、半導(dǎo)體、材料、生物技術(shù)、食品以及政府單位和高??蒲性核阮I(lǐng)域。
離子研磨儀
產(chǎn)品介紹 日立離子研磨儀標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型IM4000Ⅱ能夠進(jìn)行截面研磨和平面研磨。還可通過(guò)低溫控制及真空轉(zhuǎn)移等各種選配功能,針對(duì)不同樣品進(jìn)行截面研磨。
日立 離子研磨儀 IM4000II 產(chǎn)品信息



高效率的截面研磨


IM4000II配備截面研磨能力達(dá)到500 µm/h*1以上的高效率離子槍。因此,即使是硬質(zhì)材料,也可以高效地制備出截面樣品。


*1   在加速電壓6 kV下,將Si片從遮擋板邊緣突出100 µm并加工1小時(shí)的深度


樣品:Si片(2 mm厚)
加速電壓:6.0 kV
擺動(dòng)角度:±30°
研磨時(shí)間:1小時(shí)


截面研磨時(shí)如果擺動(dòng)的角度發(fā)生變化,加工的寬度和深度也會(huì)發(fā)生變化。下圖為Si片在擺動(dòng)角度為±15°下進(jìn)行截面研磨后的結(jié)果。除擺動(dòng)角度以外,其他條件與上述加工條件一致。通過(guò)與上面結(jié)果進(jìn)行對(duì)比后,可發(fā)現(xiàn)加工的深度變深。


對(duì)于觀察目標(biāo)位于深處的樣品來(lái)說(shuō),能夠?qū)悠愤M(jìn)行更快速的截面研磨。


樣品:Si片(2 mm厚)
加速電壓:6.0 kV
擺動(dòng)角度:±15°
研磨時(shí)間:1小時(shí)



復(fù)合型研磨儀


截面研磨


  • 1、即使是由不同硬度以及研磨速度材質(zhì)所構(gòu)成的復(fù)合材料,也可以通過(guò)IM4000Ⅱ制備出平滑的研磨面


  • 2、優(yōu)化加工條件,降低因離子束所致樣品的損傷


  • 3、可裝載20 mm(W) × 12 mm(D) × 7 mm(H)的樣品


平面研磨

  • 直徑約為5mm范圍內(nèi)的均勻加工

  • 應(yīng)用領(lǐng)域廣泛

  • 可裝載直徑50 mm × 高度25 mm的樣品

  • 可選擇旋轉(zhuǎn)和擺動(dòng)(±60度,±90度的擺動(dòng))2種加工方法

平面研磨的主要用途

  • 去除機(jī)械研磨中難以消除的細(xì)小劃痕和形變

  • 去除樣品表層部分

  • 消除因FIB加工所致的損傷層



產(chǎn)品選配項(xiàng):


低溫控制功能*1

將液氮裝入杜瓦罐中,以此作為冷卻源間接冷卻樣品。IM4000Ⅱ配有溫度調(diào)節(jié)控制功能,以防止樹(shù)脂和橡膠樣品過(guò)冷


  • *1 需與主機(jī)同時(shí)訂購(gòu)。



真空轉(zhuǎn)移功能

離子研磨加工后的樣品可以在不接觸空氣的狀態(tài)下直接轉(zhuǎn)移到SEM*1、AFM*2上。真空轉(zhuǎn)移功能與低溫控制功能可同時(shí)使用。(平面研磨真空轉(zhuǎn)移功能不適用低溫控制功能)。

  • *1 僅支持帶有真空轉(zhuǎn)移交換倉(cāng)的日立FE-SEM

  • *2 僅支持真空型日立AFM。


觀察加工過(guò)程的體式顯微鏡

右圖為用于觀察樣品加工過(guò)程的體式顯微鏡。搭載了CCD相機(jī)的三目型顯微鏡能夠在顯示器上進(jìn)行觀察。也可配置雙目型體式顯微鏡。



產(chǎn)品規(guī)格:


主要內(nèi)容
使用氣體氬氣
氬氣流量控制方式質(zhì)量流量控制
加速電壓0.0 ~ 6.0 kV
尺寸616(W) × 736(D) × 312(H) mm
重量主機(jī)53 kg+機(jī)械泵30 kg
截面研磨
研磨速度(Si材料)500 µm/h*1以上
樣品尺寸20(W)×12(D)×7(H)mm
樣品移動(dòng)范圍X±7 mm、Y 0 ~+3 mm

離子束間歇加工功能

開(kāi)啟/關(guān)閉 時(shí)間設(shè)定范圍

1秒 ~ 59分59秒
擺動(dòng)角度±15°、±30°、±40°
廣域截面研磨功能-
平面研磨
加工范圍φ32 mm
樣品尺寸Φ50 X 25 (H) mm
樣品移動(dòng)范圍X 0~+5 mm

離子束間歇加工功能

開(kāi)啟/關(guān)閉 時(shí)間設(shè)定范圍

1秒 ~ 59分59秒
旋轉(zhuǎn)速度1 rpm、25 rpm
擺動(dòng)角度±60°、± 90°
傾斜角度0 ~ 90°


*1 將Si片從遮擋板邊緣突出100 µm并加工1小時(shí)的深度。


選配項(xiàng)


項(xiàng)目內(nèi)容
低溫控制功能*2通過(guò)液氮間接冷卻樣品,溫度設(shè)定范圍:0°C ~ -100°C
超硬遮擋板使用時(shí)間約為標(biāo)準(zhǔn)遮擋板的2倍(不含鈷)
加工過(guò)程觀察用顯微鏡放大倍數(shù) 15× ~ 100× 雙目型、三目型(可裝CCD)


*2 需與主機(jī)同時(shí)訂購(gòu)。冷卻溫度控制功能在使用時(shí),部分功能可能使用有限。


關(guān)鍵詞:顯微鏡 CCD相機(jī)
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