5 大理由
從高質量數(shù)據(jù)中獲益
安東帕的 SAXSpoint 5.0 和 SAXSpace 小角 X 射線散射系統(tǒng)使用明亮的 X 射線光源和光學器件以產生具有光譜純度和高通量的 X 射線光束。結合系統(tǒng)的無散射光束準直以及*的混合光子計數(shù) (HPC) 檢測器，能夠得到高信噪比和的總體數(shù)據(jù)質量。
應用的靈活性
安東帕納米結構分析儀為納米結構樣品提供了十分全面、用途廣泛的樣品臺選擇。無論您要進行納米結構表面的研究、拉伸測試、受控溫度下的結構研究還是濕度或壓力或氣體反應測量，安東帕 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 系統(tǒng)都能夠很方便配置來表征納米結構樣品。
從同時 SAXS/WAXS 功能獲益
完整的納米結構材料分析需要小散射角和大散射角下的 X 射線散射數(shù)據(jù)。安東帕納米結構分析儀能夠自動同時 SAXS 和 WAXS 測量，提供超高的小角范圍內的角分辨率以及廣角散射信息。
每天享有可靠的納米研究
分析儀工作時間長、維護成本低且操作可靠。分析儀創(chuàng)新且可靠的設計確保了其可用性，因此也允許樣品高通量。平穩(wěn)的運作以及持續(xù)穩(wěn)定的優(yōu)異測量結果對納米結構材料的研究起到了支持作用。
依靠深厚的應用知識
納米結構分析儀可獲得的維護：一旦安裝好系統(tǒng)并試運行后，專業(yè)的安東帕專家會提供全面的現(xiàn)場用戶培訓以幫助您充分利用儀器。安東帕具有超過 60 年的經(jīng)驗，已經(jīng)成為 SAXS/WAXS/GISAXS 納米結構分析領域最成功和的合作伙伴。
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