日立的企業(yè)宣言“Inspire the Next”代表著日立為社會(huì)奉獻(xiàn)，為新時(shí)代注入新活力的決心，以成為“解決方案合作商”為目標(biāo)，為實(shí)現(xiàn)富有而便利的生活做出自己的貢獻(xiàn)。日立以集團(tuán)愿景為行動(dòng)方針，融合投入事業(yè)的極大熱情與專業(yè)能力，力爭在激烈的競爭環(huán)境中脫穎而出。
成本低、快速、非破壞的 EDXRF 分析
可完成至多 4 層鍍層（另加底材）和 15 個(gè)元素的鍍層厚度測試，自動(dòng)修正 X 射線重疊譜線
的多元素辨識(shí)，廣泛覆蓋元素表上從鈦（原子序數(shù) 22 號(hào)）到鈾（92 號(hào)）各元素
測厚行業(yè) 20 年知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)的積淀
使用廣受推崇的能量色散 X 射線熒光（EDXRF）技術(shù), X-Strata920 可 實(shí)現(xiàn)如下測試要求：
符合 ISO3497 標(biāo)準(zhǔn)測試方法：金屬鍍層——X 射線光譜法測量鍍層厚度
符合 ASTM B568 標(biāo)準(zhǔn)測試方法：X 射線光譜儀測量鍍層厚度，包括 金屬和部分非金屬鍍層
至多同時(shí)分析 25 種元素
開槽式樣品倉結(jié)合電機(jī)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)，可測量各種尺寸樣品，包括小元 件和大型平板樣品，如尺寸大于儀器寬度的印制線路 板。所有樣品可 以很方便地 用程控 XY 平臺(tái)放置并快速定位到樣品上的各個(gè)待測點(diǎn)進(jìn) 行分析。
經(jīng)過簡單易學(xué)的指導(dǎo)，用戶即可通過編程完成自動(dòng)測量，實(shí)現(xiàn)的 樣品測試量和無人操作的測試。
使用鼠標(biāo)控制，可以方便地放置被測樣品/零件，并且精確定位到測 試點(diǎn)。
樣品放置方便
Z 軸自動(dòng)控制（Z 向行程：43mm/1.7”）
樣品定位方便
樣品臺(tái)尺寸：56mm (22") 深 x 61mm (24") 寬
XY 向行程：178mm (7") x 178mm (7")
樣品高度 33mm (1.3”)
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