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CRD高反射率測(cè)量?jī)x

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2022/10/26 14:44:07
  • 訪問(wèn)次數(shù)430
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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  北京吳然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年,專業(yè)代理歐美(德國(guó)、瑞士、美國(guó)、波蘭等)高精度的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備,致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測(cè)解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的全服務(wù)。主要包括:光學(xué)檢測(cè)產(chǎn)品:應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測(cè)厚儀、測(cè)角儀、激光損傷閾值測(cè)試系統(tǒng)、光學(xué)表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)、可調(diào)相位延遲波片等;激光檢測(cè)產(chǎn)品:激光功率計(jì)、能量計(jì)、光束質(zhì)量分析儀、M2測(cè)試儀等;集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺(tái)、偏振光轉(zhuǎn)換器等顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動(dòng)載物臺(tái)、波片進(jìn)片機(jī)、高速相機(jī)ICCD、像增強(qiáng)器300ps門控時(shí)間、FLIM、 高精度脈沖延時(shí)器等。值得一提的是,近年來(lái)公司科研團(tuán)隊(duì)自主研發(fā)PCI弱吸收測(cè)量?jī)x,CRD光腔衰蕩法高反測(cè)量?jī)x,偏心曲率測(cè)量?jī)x等產(chǎn)品,為今后的發(fā)展壯大奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。OPCROWN PHOTONICS Company Limited (OPCROWN) was founded in 2010, which markets and distributes globally sourcedproducts and services into the Photonics markets of China, committed to providing scientific research and industrial clientswith optical detection solutions and services including pre -sales, in-sales and after-sales. Main products include :Optical detection Instruments:Goniometer, Thickness, Birefringence, Refractive index , Absorption Reflectivity, Scattering, Retardation,GDD etc.Laser detection Instruments:Power/Energy Meter, Beam Profile, M2, etc;Laser, microbench, positioning systems, mirror mounts, Polarized Converter,etc;XYZ electric stage, ICCD, Image Intensifier, FLIM,etc.It is worth mentioning that the company's scientific research team independently developed the PCI absorption measuringinstrument, CRD high reflectivity measuring instrument, eccentric curvature instrument etc. The relevant indicators havereached the international advanced level, laying a solid foundation for the future development and expansion.
應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射儀、非接觸式測(cè)厚儀、測(cè)角儀、激光損傷閾值測(cè)試系統(tǒng)、光學(xué)表面質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)
CRD高反射率測(cè)量?jī)x
CRD高反射率測(cè)量?jī)x 產(chǎn)品信息
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  • 上傳成功 Spectrally resolved measurement of small optical losses by cavity enhanced spetroscopy techniques
  • Spectrally resolved cavity ring down measurement of high refelctivity mirrors using a supercontinuum laser source

 

針對(duì)高反射率(R>99.7%)的光學(xué)樣品,德國(guó) IPHT Jena研發(fā)了光腔衰蕩光譜法(Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS)反射率測(cè)量測(cè)量系統(tǒng), 它通過(guò)對(duì)指數(shù)型腔內(nèi)衰蕩信號(hào)的檢測(cè), 消除了傳統(tǒng)檢測(cè)方法中激光能量起伏所引起的誤差, 大大提高了測(cè)量精度。

測(cè)量原理

當(dāng)一束脈沖激光沿著光軸入射到光腔內(nèi),忽略衍射及散射損耗,單色脈沖光在兩個(gè)腔鏡之間往返振蕩,每經(jīng)過(guò)一次循環(huán)透射出部分光,探測(cè)器通過(guò)接收光脈沖信號(hào)得到其以單指數(shù)形式衰減。
 

 

τ為衰蕩時(shí)間,指光子出射脈沖光強(qiáng)衰減為初始光強(qiáng)的1/e時(shí)經(jīng)歷的時(shí)間。C代表光速,L是代表腔長(zhǎng),RM是兩個(gè)腔鏡的幾何平均反射率,散射V和吸收系數(shù)α忽略不計(jì)。則,衰蕩時(shí)間τ表示為:

從公式上可知:


1)腔內(nèi)損耗越小,反射率越高,衰蕩時(shí)間越長(zhǎng)。
2)在已知參考片的反射率Rref 前提下,可求得要待測(cè)樣品的反射率R。
 

一、 德國(guó)IPHT CRD高反射率測(cè)量系統(tǒng)

1. CRD系統(tǒng)介紹

 

系統(tǒng)包含

1. 激光光源
2. 光學(xué)零部件
3. A/D轉(zhuǎn)換器
4. 探測(cè)系統(tǒng)

系統(tǒng)要求

詳細(xì)說(shuō)明

激光器波長(zhǎng)范圍

400nm-1064nm內(nèi)常見(jiàn)激光波長(zhǎng)

激光器工作模式

脈沖

測(cè)量角度范圍

標(biāo)準(zhǔn)0°;45°選配

反射率測(cè)量范圍

99.9%-99.995%

測(cè)量精度

反射率精度取決于待測(cè)樣品反射率,精度為(1-R)*10%

樣品類型

平平/平凹鏡(凹面的曲率半徑≥500mm),平面拋光,凹面鍍高反,反射率R在99.9%...99.995%范圍內(nèi)

樣品尺寸要求

標(biāo)準(zhǔn)即1英寸;半英寸/50mm可選(直徑要求可根據(jù)客戶需求定制)

標(biāo)準(zhǔn)厚度:1/4英寸(5-7mm可選)

 

應(yīng)用:

精確檢測(cè)高反射率激光腔鏡的反射率,尤其對(duì)于反射率大于99.9%的腔鏡測(cè)量具有更好的效果。

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