JX-4400微分干涉顯微鏡

性能特點

1）JX-4400為***FPD檢查顯微鏡，專為LCD行業(yè) / TFT玻璃 / COG導(dǎo)電粒子壓痕、粒子爆破檢查

2）JX-4400機型采用4寸、6寸平臺設(shè)計，可適用于相應(yīng)尺寸的晶圓或小尺寸樣品的金相檢查

3）JX-4400，其微分干涉效果可與進口品牌相媲美

4）JX-4400機型采用全新設(shè)計的長工作距物鏡、半復(fù)消色差技術(shù)，多層寬帶鍍膜技術(shù)，采用長壽命LED光源

5）多種高度功能化的附件，能滿足各種檢驗需要，可用于明場、簡易偏光、微分干涉觀察

主要技術(shù)規(guī)格：

★ 無限遠色差校正光學(xué)系統(tǒng)（CSIS）

★ 高眼點大視野平場目鏡PL10X/22mm，（可選：PL10X22R、PL15X16）

★ 無限遠鉸鏈三通觀察筒，30°傾斜

（可選：無限遠正像鉸鏈三通觀察筒，25°傾斜）

★ 無限遠長工作距平場消色差金相物鏡（標(biāo)配）

LMPL 5X/0.15 WD10.8mm LMPL 10X/0.3 WD10mm

LMPL 20X/0.45 WD4mm LMPL 50X/0.55 WD7.8mm

LMPL 100X/0.80 WD2.1mm

（可選：DIC專用物鏡、OLYMPUS無限遠明場物鏡）

★ 1/2CTV攝像接口(0.5X)，C接口，可調(diào)焦

（可選：1XCTV攝像接口(1X)，C接口，可調(diào)焦）

★ 內(nèi)定位5孔轉(zhuǎn)換器，帶DIC插槽

★ 反射式機架，前置低手位粗微同軸調(diào)焦機構(gòu)。粗調(diào)行程30mm，微調(diào)精度0.001mm。帶有防止下滑的調(diào)節(jié)松緊裝置和防止打壞切片、快速聚焦的隨機上限位裝置

（可選：透反兩用機架，內(nèi)置5W LED透射光照明系統(tǒng)，上下光可獨立控制）

★ 反（落）射照明器，柯拉照明系統(tǒng)，帶視場光闌與孔徑光闌，中心可調(diào)；帶斜照明裝置；90-240V寬電壓，單顆3W LED 6500K，亮度可調(diào)

★ 4英寸雙層機械平臺，低手位X、Y方向同軸調(diào)節(jié)；平臺面積230×215mm，行程105×105mm；金屬載物臺板。（另有透反兩用平臺）

（可選：6英寸三層機械移動平臺，平臺面積445×240mm，行程158×158mm；帶快速移動裝置；玻璃載物臺板，透反兩用平臺）

★ 可選配藍色、綠色、紅色干涉濾光片

★ 360度旋轉(zhuǎn)式檢偏鏡插板、Φ30起偏鏡插板

★ 可選配標(biāo)準(zhǔn)微分干涉（DIC）裝置、OLYMPUS微分干涉（DIC）裝置