日本JEOL 場發(fā)射電子探針顯微分析儀 JXA-8530F Plus
2003年日本電子推出了世界*商業(yè)化場發(fā)射電子探針(FE-EPMA),此后被廣泛地應用于金屬、材料、地質(zhì)等各個領(lǐng)域,并獲得了*的贊譽。研發(fā)的第三代場發(fā)射電子探針JXA-8530F Plus,電子光學系統(tǒng)有了很大的改進,新的軟件能提供更高的通量,并保持著*的穩(wěn)定性,能實現(xiàn)更廣泛的EPMA應用。
產(chǎn)品特點:
· 肖特基場發(fā)射電子探針Plus
· JXA-8530F Plus采用浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍,優(yōu)化了角電流密度,能利用2 μA以上的大探針電流進行分析,還提高了分析條件下的二次電子像的分辨率。
· 高級軟件
· 新開發(fā)了多種基于Windows操作系統(tǒng)的軟件,其中包括:能使痕量元素分析更加簡便的“痕量元素分析程序”、能自動制作相圖的“相圖制作器”以及只需簡單輸入就能對表面凹凸不平樣品進行測試的“不平坦樣品的分析程序”等。
· 備注:Windows7® 為美國微軟公司在美國及其它國家的注冊商標或商標。
· 靈活的WDS配置
· X射線波譜儀可以選擇140 R或100 R羅蘭圓, 羅蘭圓半徑為140 mm的XCE/L型X射線譜儀檢測范圍寬,波長分辨率高和P/ B比優(yōu)異,100 mm的H型X射線譜儀具有X射線衍射強度高的特點,可以根據(jù)需要選擇使用。
· WDS/EDS組合系統(tǒng)
· JXA-8530FPlus標配了JEOL制造的30平方毫米 SD檢測器(以下簡稱SD檢測器),憑借高計數(shù)率的SD檢測器,在與WDS相同的分析條件下可以進行EDS分析,通過簡單的操作就能采集EDS譜圖。
· 多功能樣品室
· 樣品室的可擴展性強,配備了樣品交換室,可以安裝各種附件。 可以安裝的附件
· • 電子背散射衍射系統(tǒng)(EBSD)
· • 陰極熒光檢測系統(tǒng)
· • 軟X射線分析譜儀
· • 不暴露在大氣環(huán)境下的轉(zhuǎn)移艙
· • 高蝕刻速率的離子源
· 強力、清潔的真空系統(tǒng)
高強力真空系統(tǒng)包括兩臺磁懸浮渦輪分子泵, 鏡筒內(nèi)還采用兩個中間室,通過差動抽氣保持電子槍室的高真空。
· 軟X射線分析譜儀 (SXES)
· SXES (Soft X-Ray Emission Spectrometer) 軟X射線分析譜儀
· 日本東北大學多元物質(zhì)科學研究所(寺內(nèi)正己教授)和日本電子株式會社共同開發(fā)的的高分辨率軟X射線分析譜儀。 新開發(fā)的變柵距衍射光柵(VLS)和高靈敏度的CCD相機組合,同時檢測Li-K系譜線和B-K系譜線,該譜儀實現(xiàn)了*的能量分辨率,因而能進行化學結(jié)合狀態(tài)分析等。
· miXcroscopy (關(guān)聯(lián)顯微鏡)
· miXcroscopy 光學顯微鏡/掃描電子顯微鏡關(guān)聯(lián)系統(tǒng)
· 能批量登錄光學顯微鏡的坐標數(shù)據(jù)作為EPMA的分析點,該系統(tǒng)于需要用光學顯微鏡決定分析位置的樣品。