JXA-8230 電子探針顯微分析儀
可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器,組合使用WDS和EDS,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
產(chǎn)品規(guī)格:
檢測元素范圍 | WDS:(Be)*1 /B~U, EDS:B~U |
X射線檢測范圍 | WDS檢測的波長范圍: 0.087~9.3nm, |
分光譜儀數(shù)量 | WDS: 1~5道可選、EDS: 1臺 |
樣品尺寸 | 100mm × 100mm × 50mm(H) |
加速電壓 | 0~30kV(以0.1 kV為步長) |
束流電流范圍 | 10-12 ~ 10-5 A |
束流電流穩(wěn)定度 | 5%/h, ±0.3%/12h(W) |
二次電子分辨率 | 6nm(W), 5nm(LaB6)*2 |
掃描倍率 | ×40 ~ ×300,000(W. D. 11mm) |
掃描圖像分辨率 | 5,120× 3,840 |
彩色顯示器 | EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024 |
光學顯微鏡 |
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分辨率 | ~1um |
焦深 | 1um |
真空系統(tǒng) | 機械泵、分子泵、離子泵 *2 |
真空度 | 樣品室: 優(yōu)于8.0 x 10-4Pa, |
產(chǎn)品特點:
· 可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器,組合使用WDS和EDS,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
· 日本電子新開發(fā)出的EPMA (電子探針)秉承近半個世紀的EPMA的發(fā)展歷史,JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析,這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是下一代能*多種需求的強力分析工具之一。
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· EPMA快速啟動
· 點擊任何一點,就能開始預(yù)設(shè)的EDS定性、定量分析或WDS分析。
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· 用戶菜單(User recipes)
· 能保存或調(diào)用經(jīng)常使用的各種不同類型的樣品分析條件,菜單中包括了全部的電子光學參數(shù)、EDS和WDS參數(shù)在內(nèi)。
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· EDS 的性能
· 數(shù)字化脈沖處理器
· 全譜面分布(WD/ED, 樣品臺和電子束掃描)
· 無風扇SDD (選配)