Fluke 1621 是一款簡(jiǎn)單易用的接地測(cè)試儀。 對(duì)于接地電阻測(cè)試場(chǎng)合,1621 是檢測(cè)可靠接地連接線路的*道防線。 裝置采用多種基本的接地測(cè)試方法,其中包括三極電壓降測(cè)試法及兩極接地電阻測(cè)試法。 它的尺寸輕巧方便,擁有結(jié)實(shí)的皮套以及清晰的寬大 LCD 顯示屏,使之成為大多數(shù)電氣接地工作場(chǎng)合的理想現(xiàn)場(chǎng)接地測(cè)試儀。 Fluke 1621 擁有簡(jiǎn)單的用戶界面和直觀易用的功能,是一款電氣承包商、設(shè)備測(cè)試工程人員和接地專業(yè)人士*的手持式接地測(cè)試工具
常規(guī)技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量功能:三極接地電阻,兩極交流電阻,干擾電壓
基本誤差:查閱參考溫度范圍,提供一年保修
測(cè)量速率:每秒測(cè)量 2 次
電池:1 個(gè) 9 伏堿性電池 (LR61)
電池電量狀態(tài):如果電壓低于 6.5 V,則會(huì)顯示 LO-BAT(低電量)
電壓:H/C2 和 E/C1 接頭之間:
zui大 250 Veff(有效電壓)
S/P2 和 E/C1 接頭之間: zui大 250 Veff
氣候類別:VDE/VDI 3540 RZ(符合 KWG,每個(gè) DIN 40040,4/87)
溫度性能
工作: -10 °C 至 +50 °C(+14 °F 至 +122 °F)
操作: 0 °C 至 +35 °C(+32 °F 至 +95 °F)
存儲(chǔ): -20 °C 至 +60 °C(+68 °F 至 +140 °F)
參考: +23 °C ± 2 °C (+73 °F ± 4 °F)
溫度系數(shù):量程的 ± 0.1 %,每開氏溫度
安全: IEC/EN 61010-1,600 V,II 類,2 級(jí)污染
尺寸:113 毫米 x 54 毫米 x 216 毫米((4.5 英寸 x 2.1 英寸 x 8.5 英寸),包括護(hù)套
重量:850 克(1.9 磅),包括標(biāo)準(zhǔn)附件,體積約 600 立方厘米
注: 如果不使用測(cè)試儀,或需要*存放,請(qǐng)卸下電池并與測(cè)試儀分開存放,以免電池泄露對(duì)測(cè)試儀造成損害。
注: 測(cè)試儀的 4 個(gè)溫度范圍符合歐洲安全標(biāo)準(zhǔn)要求;通過使用溫度系數(shù)來(lái)計(jì)算工作環(huán)境溫度下的準(zhǔn)確度,儀器可在整個(gè)溫度范圍內(nèi)正常工作。
電氣技術(shù)指標(biāo)
zui大偏差:
E1 影響因素 位置
E1 偏差影響 0%
E2 影響因素 電壓
E2 偏差影響 0%
E3 影響因素 溫度 E3
E3 偏差影響 2.3 %
E4 影響因素 串行干擾電壓 (20 V)
E4 偏差影響 0.6 %
E5 影響因素 探針和輔助探針電阻
E5 偏差影響 10%
測(cè)試電壓
3.7 kV
保護(hù)等級(jí)
IP 40;IEC/EN 60529
電磁兼容性
輻射: EC/EN 61326,B 類RE 電阻測(cè)量
測(cè)量方法 使用改進(jìn)的串?dāng)_衰減方法進(jìn)行電流-電壓測(cè)量,無(wú)需補(bǔ)償導(dǎo)線電阻測(cè)量,使用探針(三極)或不使用探針(兩極),符合 IEC/EN 61557-5 標(biāo)準(zhǔn)
開放電路電壓 23 至 24 V ac
短路電流 > 50 mA ac
測(cè)量頻率 128 Hz
zui大許可過載 250 Veff
測(cè)量時(shí)間 8 秒(從按“開始起計(jì)算的平均值)
限制輸入 即使測(cè)試儀關(guān)閉,仍會(huì)保留設(shè)定值(如果電池電量充足)
自動(dòng)切換分辨率
RH < 7 kΩ--分辨率 0.01 Ω
RH < 50 kΩ--分辨率 0.1 Ω
RH > 50 kΩ--分辨率 1 Ω
干擾直流和交流電壓顯示
zui大電壓 30 Veff
共模抑制 > 80 dB,50 Hz 和 60 Hz
Ri 680 kΩ測(cè)量誤差 對(duì)于純交流電和直流電信號(hào),< 10 %
量程0.15 Ω 至 20 Ω -分辨率 0.01 Ω
顯示范圍 0 至 19.99 Ω 200 Ω-分辨率 0.1 Ω
顯示范圍 20 至 199.9 Ω-2 kΩ 分辨率 1 Ω
顯示范圍 200 至 1999 Ω
基本誤差 ±(測(cè)量值的 6 % + 5 位數(shù)字)
操作誤差 IEC 61557
±(測(cè)量值的 18 % + 5 位數(shù)字)
注: [1] 包括影響因素 E1-E5 造成的所有偏差。
如果高探針或輔助探針電阻造成的偏差 E4 高于值,即會(huì)閃爍。
測(cè)量值不在的操作誤差范圍內(nèi)。